瑞典XCounter 雙能探測器

瑞典XCounter 雙能探測器

產(chǎn)品描述X 系列
XC-FLITE X1、X2、X3是直接數(shù)字轉(zhuǎn)換、自掃描、雙能采集、光子計數(shù)X射線探測器，用于數(shù)字X射線成像系統(tǒng)，基于新型強大的CdTe-CMOS傳感器平臺研發(fā)而成，XC-FLITE X系列適用于潛在寬泛的能量范圍。
 
XC-FLITE X系列可以基于幀率成像，也可以采用時間延遲總和（TDS）模式，掃描速度最高90mm/s。
 
引進反符合技術(shù)的雙能采集功能，是XC-FLITE X系列產(chǎn)品的先進之處，在雙能采集過程中，收集到的光子能量分別設(shè)置為兩個獨立的閾值，并分別讀出，兩個能量設(shè)置可以用來區(qū)分材料，為醫(yī)療和工業(yè)新成像技術(shù)開啟了大門。反符合技術(shù)的引進，可以通過保證將每一個光子信號分布在正確的像素點上，以獲取更高的能量分辨率。  
 
所有精心設(shè)計的運動部件需要在XC-FLITE X系列的內(nèi)部自動控制，整個掃描過程是透明可見的。
 
集成
XC-FLITE X系列，通過GigE接口將XC-FLITE X系列連接到計算機上，自帶靈活的軟件開發(fā)包，可控制所有XC-FLITE X的功能；可用在Windows XP、Vista、 Windows7和Windows8系統(tǒng)平臺
 
應(yīng)用
*小范圍輻照   
*小動物成像
*實驗室樣品和標本成像    
*工業(yè)檢測（NDT）
 
特點&優(yōu)勢
*三種尺寸可選
*CdTe-CMOS傳感器，高品質(zhì)成像
*自掃描設(shè)計，透明可見
*雙能采集，具有材料區(qū)分能力
*反符合技術(shù)，卓越的能量分辨率
*可基于幀率成像，也可以選擇時間延遲總和（TDS）模式
*掃描速度最高90mm/s
*兼容Windows操作系統(tǒng)，從XP到Windows8
*綁定強大的可編程的開發(fā)軟件
 
技術(shù)參數(shù)單
基本參數(shù)