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    上海儀電科儀X-4系列顯微熔點(diǎn)儀

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    詳細(xì)介紹

    特點(diǎn):

    測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。主要用于藥物、化工、紡織、染料、香料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定,顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測(cè)定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺(tái)法)測(cè)定。

    主要技術(shù)參數(shù)
    熔點(diǎn)測(cè)量范圍:室溫至320
    測(cè)量重復(fù)性:±1(在<200時(shí))

    ±2(在20 .0320時(shí))


    X-4

    X-4A

    X-4B

    溫度顯示最小值

    1

    0.1

    0.1

    熔點(diǎn)觀察方式

    單目顯微鏡

    單目顯微鏡

    雙目體視顯微鏡

    光學(xué)放大倍數(shù)

    40×

    40×

    40×-100×連續(xù)變倍


    技術(shù)資料

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