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    德國(guó)BMT WLI LA 白光干涉儀

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    詳細(xì)介紹

    WLI LA 白光干涉儀

    德國(guó)BMT WLI LA 白光干涉儀比使用顯微物鏡的設(shè)備可測(cè)面積大得多,同時(shí)具有非常高的數(shù)值孔徑。非常適于平整度測(cè)量。

    特點(diǎn):

    ● 表面輪廓和平整度測(cè)量;

    粗糙和光滑表面均可測(cè)量;

    測(cè)量不受顏色和材料影響;

    數(shù)秒內(nèi)完成測(cè)量;

    測(cè)量范圍大。


    技術(shù)參數(shù):
    適用于較大面積平面的表面結(jié)構(gòu)形狀測(cè)量
    測(cè)量頭

    光源 LED

    測(cè)量范圍 (μm) 100/150

    垂直分辨率(nm) ≥1

    橫向分辨率(μm) 30

    測(cè)量面積 (mm) 14×10

    工作距離 (mm) 24

    數(shù)碼相機(jī)<14位(Pixel) 1392×1040

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