Micro-LED晶圓臺測試系統(tǒng)

隨著Mini-LED晶圓臺測試系統(tǒng)和Micro-LED晶圓臺測試系統(tǒng)（簡稱M-LED）尺?的?幅縮?，光通量的下降，檢測難度在不斷上升，檢測數(shù)量也在?幅增加，對其綜合光電性能的檢測也提出了更多更新的要求。為此，Aunion Tech推出了全新開發(fā)的?主品牌晶圓級I-V-L-S綜合光電性能測試臺系統(tǒng)。 Micro-LED晶圓臺測試系統(tǒng)可以?持蕞?10um尺?的Micro-LED的點亮測試；可以?持正裝或倒裝M-LED的測試；不僅能對單 顆M-LED進?I-V-L（電流-電壓-亮度）曲線的測試，還能獲得?度、主波?DWL和光譜信息；不僅能觀察單顆LED?身的亮度、?度分布，還能實現(xiàn)對陣列M-LED的亮度、?度、波?均勻性分布進?測量和分析。 Micro-LED晶圓臺測試系統(tǒng)實現(xiàn)了對M-LED的綜合光電性能測試，是Micro-LED/Mini-LED企業(yè)研發(fā)、實驗、?產(chǎn)不可或缺的檢測設備。

M-LED的I-V-L-S綜合光電性能測試臺

? 顯微成像+探針點亮模塊：蕞??持10um尺?Micro-LED產(chǎn)品 

? 超?量程的綜合光電性能測試 

  - I-V-L-S測試集成電流、電壓、亮度、?度、主波?、光譜等多種信息 

  - 可?持0.0001-1010 cd/m2 超?量程，完整測試M-LED的特性 

  - ?持100pA到1A的超?量程測試 

? 精密運?控制臺 

? 隔振光學平臺

Micro-LED晶圓臺測試系統(tǒng)技術規(guī)格：