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    玻璃介質(zhì)損耗測(cè)試測(cè)量?jī)x器

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    產(chǎn)品特點(diǎn)

    玻璃介質(zhì)損耗測(cè)試測(cè)量?jī)x器國(guó)內(nèi)核心標(biāo)準(zhǔn)??GB/T 1409-2006?適用于電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(50Hz-1MHz)下的電容率(介電常數(shù))和介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試

    詳細(xì)介紹

    玻璃介質(zhì)損耗測(cè)試測(cè)量?jī)x器?GB/T 5654-2007?針對(duì)液體絕緣材料(如變壓器油、有機(jī)溶劑)的相對(duì)電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)及直流電阻率測(cè)試,要求嚴(yán)格控制取樣條件(消除氣泡、雜質(zhì))和溫度誤差(±0.5℃)。

    ?GB/T 31838.8-2024?規(guī)范固體絕緣材料在1MHz-300MHz高頻范圍的相對(duì)介電常數(shù)和介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試,適用于極端環(huán)境(如真空、輻射)下的介電穩(wěn)定性驗(yàn)證

    玻璃介質(zhì)損耗測(cè)試測(cè)量?jī)x器測(cè)試方法分類標(biāo)準(zhǔn)??低頻與工頻測(cè)試?優(yōu)先采用GB/T 1409-2006的工頻法,通過(guò)西林電橋或自動(dòng)平衡電橋測(cè)量,升壓速率需控制為500-2000V/s。?高頻與微波測(cè)試?諧振腔法(如IEC 60250)適用于1MHz-300MHz頻段,支持微帶環(huán)諧振器和三維介電譜分析。傳輸線法(如ASTM D3380)用于500kHz-30MHz寬頻段測(cè)量,誤差≤0.1%。?極端條件測(cè)試?高溫/真空環(huán)境需遵循GB/T 31838.8-2024,結(jié)合溫控模塊(-70℃至700℃)和壓力調(diào)節(jié)裝置(3×10?2MPa)行業(yè)專用標(biāo)準(zhǔn)??電力與電子行業(yè)??GB/T 1693-2007?:硫化橡膠類材料(如電纜絕緣層)的介電損耗角正切值(tanδ)測(cè)試。?DIN IEC 247-1996?:液體絕緣材料的相對(duì)介電常數(shù)與直流電阻率同步檢測(cè)。?航空航天與通信?:片型/管型電絕緣材料的介電特性測(cè)試,適用于航空復(fù)合材料的高溫穩(wěn)定性評(píng)估。?IEEE標(biāo)準(zhǔn)?:基于網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)量微波材料的反射/透射參數(shù),確保高頻信號(hào)完整性

    夾具.png

    技術(shù)參數(shù):

    1.Q值測(cè)量
    a.Q值測(cè)量范圍:2~1023。
    b.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔。
    c.標(biāo)稱誤差
    頻率范圍(100kHz~10MHz): 頻率范圍(10MHz~160MHz):
    固有誤差:≤5%±滿度值的2% 固有誤差:≤6%±滿度值的2%
    工作誤差:≤7%±滿度值的2% 工作誤差:≤8%±滿度值的2%
    2.電感測(cè)量范圍:4.5nH~7.9mH
    3.電容測(cè)量:1~205
    主電容調(diào)節(jié)范圍:18~220pF
    準(zhǔn)確度:150pF以下±1.5pF; 150pF以上±1%
    注:大于直接測(cè)量范圍的電容測(cè)量見后頁(yè)使用說(shuō)明
    4.  信號(hào)源頻率覆蓋范圍
    頻率范圍CH1:0.1~0.999999MHz, CH2: 1~9.99999MHz,
    CH3:10~99.9999MHz, CH1 :100~160MHz,
    5.Q合格指示預(yù)置功能:      預(yù)置范圍:5~1000。
    6.B-測(cè)試儀正常工作條件
    a.  環(huán)境溫度:0℃~+40℃;
    b.相對(duì)濕度:<80%;
    c.電源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
    7.其他
    a.消耗功率:約25W;
    b.凈重:約7kg;
    c. 外型尺寸:(l×b×h)mm:380×132×280。

     測(cè)量范圍及誤差

     本電橋的環(huán)境溫度為20±5℃,相對(duì)濕度為30%-80%條件下,應(yīng)滿足下列表中的技術(shù)指示要求。

      在Cn=100pF    R4=3183.2(W)(即10K/π)時(shí)

        測(cè)量項(xiàng)目       測(cè)量范圍             測(cè)量誤差               

        電容量Cx       40pF--20000pF      ±0.5%  Cx±2pF     

        介質(zhì)損耗tgd      0~1              ±1.5%tgdx±0.0001

        在Cn=100pF      R4=318.3(W)(即1K/π)時(shí)

        測(cè)量項(xiàng)目       測(cè)量范圍             測(cè)量誤差               

        電容量Cx       4pF--2000pF      ±0.5%  Cx±3pF     

        介質(zhì)損耗tgd      0~0.1          ±1.5%tgdx±0.0001

    2  電橋測(cè)量靈敏度

        電橋在使用過(guò)程中,靈敏度直接影響電橋平衡的分辨程度,為保證測(cè)量準(zhǔn)確度,希望電橋靈敏度達(dá)到一定的水平。通常情況下電橋靈敏度與測(cè)量電壓,標(biāo)準(zhǔn)電容量成正比。在下面的計(jì)算公式中,用戶可根據(jù)實(shí)際使用情況估算出電橋靈敏度水平,在這個(gè)水平上的電容與介質(zhì)損耗因數(shù)的微小變化都能夠反應(yīng)出來(lái)。

     DC/C或Dtgd=Ig/UwCn(1+Rg/R4+Cn/Cx)   

             式中:U為測(cè)量電壓                     伏特(V)

    ω為角頻率 2pf=314(50Hz)                            

              Cn標(biāo)準(zhǔn)電容器容量                    皮法(pF)

              Ig通用指另儀的電流5X10-10            安培(A)

              Rg平衡指另儀內(nèi)阻約1500              歐姆(W)

              R4橋臂R4電阻值3183                 歐姆(W)

              Cx被測(cè)試品電容值                    皮法(pF)

    3 電容量及介損顯示精度:

        電容量: ±0.5%×tgδx±0.0001。

        介  損: ±0.5%tgdx±1×10-4

    4 輔橋的技術(shù)特性:

        工作電壓±12V,50Hz

        輸入阻抗>1012 W

        輸出阻抗>0.6 W

        放大倍數(shù)>0.99

        不失真跟蹤電壓  0~12V(有效值)

    5 指另裝置的技術(shù)特性:

        工作電壓±12V

        在50Hz時(shí)電壓靈敏度不低于1X10-6V/格, 電流靈敏度不低于2X10-9A/格

        二次諧波  減不小于25db

        三次諧波  減不小于50db

    特點(diǎn):優(yōu)化的測(cè)試電路設(shè)計(jì)使殘值更小◆ 高頻信號(hào)采用數(shù)碼調(diào)諧器和頻率鎖定技術(shù)◆ LED 數(shù)字讀出品質(zhì)因數(shù),手動(dòng)/自動(dòng)量程切換◆ 自動(dòng)掃描被測(cè)件諧振點(diǎn),標(biāo)頻單鍵設(shè)置和鎖定,大大提高測(cè)試速度

    作為新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器,測(cè)試頻率上限達(dá)到目前國(guó)內(nèi)高的160MHz。1 雙掃描技術(shù) - 測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。2 雙測(cè)試要素輸入 - 測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過(guò)數(shù)字按鍵輸入。3 雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧,數(shù)碼化電容調(diào)諧。4 自動(dòng)化測(cè)量技術(shù) -對(duì)測(cè)試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測(cè)量。5 全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號(hào)源頻率、諧振指針。6 DDS 數(shù)字直接合成的信號(hào)源 -確保信源的高葆真,頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。7 計(jì)算機(jī)自動(dòng)修正技術(shù)和測(cè)試回路優(yōu)化 —使測(cè)試回路 殘余電感減至低, Q 讀數(shù)值在不同頻率時(shí)要加以修正的困惑。

    標(biāo)準(zhǔn)配置:高配Q表 一只  試驗(yàn)電極  一只 (c類)電感      一套(9只)電源線    一條說(shuō)明書    一份合格證    一份保修卡    一份

    為什么介電常數(shù)越大,絕緣能力越強(qiáng)?因?yàn)槲镔|(zhì)的介電常數(shù)和頻率相關(guān),通常稱為介電系數(shù)。

    介電常數(shù)又叫介質(zhì)常數(shù),介電系數(shù)或電容率,它是表示絕緣能力特性的一個(gè)系數(shù)。所以理論上來(lái)說(shuō),介電常數(shù)越大,絕緣性能就越好。

    注:這個(gè)性質(zhì)不是成立的。

    對(duì)于絕緣性不太好的材料(就是說(shuō)不擊穿的情況下,也可以有一定的導(dǎo)電性)和絕緣性很好的材料比較,這個(gè)結(jié)論是成立的。

    但對(duì)于兩個(gè)絕緣體就不一定了。

    介電常數(shù)反映的是材料中電子的局域(local)特性,導(dǎo)電性是電子的全局(global)特征.不是一回事情的。

    補(bǔ)充:電介質(zhì)經(jīng)常是絕緣體。其例子包括瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料,和各種金屬氧化物。有些液體和氣體可以作為好的電介質(zhì)材料。干空氣是良好的電介質(zhì),并被用在可變電容器以及某些類型的傳輸線。蒸餾水如果保持沒有雜質(zhì)的話是好的電介質(zhì),其相對(duì)介電常數(shù)約為80。

    對(duì)于時(shí)變電磁場(chǎng),物質(zhì)的介電常數(shù)和頻率相關(guān),通常稱為介電系數(shù)。介電常數(shù)又叫介質(zhì)常數(shù),介電系數(shù)或電容率,它是表示絕緣能力特性的一個(gè)系數(shù)介電常數(shù),用于衡量絕緣體儲(chǔ)存電能的性能.它是兩塊金屬板之間以絕緣材料為介質(zhì)時(shí)的電容量與同樣的兩塊板之間以空氣為介質(zhì)或真空時(shí)的電容量之比。介電常數(shù)代表了電介質(zhì)的極化程度,也就是對(duì)電荷的束縛能力,介電常數(shù)越大,對(duì)電荷的束縛能力越強(qiáng)。電容器兩極板之間填充的介質(zhì)對(duì)電容的容量有影響,而同一種介質(zhì)的影響是相同的,介質(zhì)不同,介電常數(shù)不同

    介質(zhì)損耗:絕緣材料在電場(chǎng)作用下,由于介質(zhì)電導(dǎo)和介質(zhì)極化的滯后效應(yīng),在其內(nèi)部引起的能量損耗。也叫介質(zhì)損失,簡(jiǎn)稱介損。在交變電場(chǎng)作用下,電介質(zhì)內(nèi)流過(guò)的電流相量和電壓相量之間的夾角(功率因數(shù)角Φ)的余角δ稱為介質(zhì)損耗角。

    損耗因子也指耗損正切,是交流電被轉(zhuǎn)化為熱能的介電損耗(耗散的能量)的量度,一般情況下都期望耗損因子低些好。

    概念:

    電介質(zhì)在外電場(chǎng)作用下,其內(nèi)部會(huì)有發(fā)熱現(xiàn)象,這說(shuō)明有部分電能已轉(zhuǎn)化為熱能耗散掉,電介質(zhì)在電場(chǎng)作用下,在單位時(shí)間內(nèi)因發(fā)熱而消耗的能量稱為電介質(zhì)的損耗功率,或簡(jiǎn)稱介質(zhì)損耗(diclectric loss)。介質(zhì)損耗是應(yīng)用于交流電場(chǎng)中電介質(zhì)的重要品質(zhì)指標(biāo)之一。介質(zhì)損耗不但消耗了電能,而且使元件發(fā)熱影響其正常工作。如果介電損耗較大,甚至?xí)鸾橘|(zhì)的過(guò)熱而絕緣破壞,所以從這種意義上講,介質(zhì)損耗越小越好。

    形式

    各種不同形式的損耗是綜合起作用的。由于介質(zhì)損耗的原因是多方面的,所以介質(zhì)損耗的形式也是多種多樣的。介電損耗主要有以下形式:

    1)漏導(dǎo)損耗

    實(shí)際使用中的絕緣材料都不是完善的理想的電介質(zhì),在外電場(chǎng)的作用下,總有一些帶電粒子會(huì)發(fā)生移動(dòng)而引起微弱的電流,這種微小電流稱為漏導(dǎo)電流,漏導(dǎo)電流流經(jīng)介質(zhì)時(shí)使介質(zhì)發(fā)熱而損耗了電能。這種因電導(dǎo)而引起的介質(zhì)損耗稱為“漏導(dǎo)損耗”。由于實(shí)阿的電介質(zhì)總存在一些缺陷,或多或少存在一些帶電粒子或空位,因此介質(zhì)不論在直流電場(chǎng)或交變電場(chǎng)作用下都會(huì)發(fā)生漏導(dǎo)損耗。

    2)極化損耗

    在介質(zhì)發(fā)生緩慢極化時(shí)(松弛極化、空間電荷極化等),帶電粒子在電場(chǎng)力的影響下因克服熱運(yùn)動(dòng)而引起的能量損耗。

      一些介質(zhì)在電場(chǎng)極化時(shí)也會(huì)產(chǎn)生損耗,這種損耗一般稱極化損耗。位移極化從建立極化到其穩(wěn)定所需時(shí)間很短(約為10-16~10-12s),這在無(wú)線電頻率(5×1012Hz 以下)范圍均可認(rèn)為是極短的,因此基本上不消耗能量。其他緩慢極化(例如松弛極化、空間電荷極化等)在外電場(chǎng)作用下,需經(jīng)過(guò)較長(zhǎng)時(shí)間(10-10s或更長(zhǎng))才達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài),因此會(huì)引起能量的損耗。

    若外加頻率較低,介質(zhì)中所有的極化都能完全跟上外電場(chǎng)變化,則不產(chǎn)生極化損耗。若外加頻率較高時(shí),介質(zhì)中的極化跟不上外電場(chǎng)變化,于是產(chǎn)生極化損耗。

    電離損耗

    電離損耗(又稱游離損耗)是由氣體引起的,含有氣孔的固體介質(zhì)在外加電場(chǎng)強(qiáng)度超過(guò)氣孔氣體電離所需要的電場(chǎng)強(qiáng)度時(shí),由于氣體的電離吸收能量而造成指耗,這種損耗稱為電離損耗。

    結(jié)構(gòu)損耗

    在高頻電場(chǎng)和低溫下,有一類與介質(zhì)內(nèi)鄰結(jié)構(gòu)的緊密度密切相關(guān)的介質(zhì)損耗稱為結(jié)構(gòu)損耗。這類損耗與溫度關(guān)系不大,耗功隨頻率升高而增大。

    試驗(yàn)表明結(jié)構(gòu)緊密的晶體成玻璃體的結(jié)構(gòu)損耗都很小,但是當(dāng)某此原因(如雜質(zhì)的摻入、試樣經(jīng)淬火急冷的熱處理等)使它的內(nèi)部結(jié)構(gòu)松散后。其結(jié)構(gòu)耗就會(huì)大大升高。

    宏觀結(jié)構(gòu)不均勾性的介質(zhì)損耗

    工程介質(zhì)材料大多數(shù)是不均勻介質(zhì)。例如陶瓷材料就是如此,它通常包含有晶相、玻璃相和氣相,各相在介質(zhì)中是統(tǒng)計(jì)分布口。由于各相的介電性不同,有可能在兩相間積聚了較多的自由電荷使介質(zhì)的電場(chǎng)分布不均勻,造成局部有較高的電場(chǎng)強(qiáng)度而引起了較高的損耗。但作為電介質(zhì)整體來(lái)看,整個(gè)電介質(zhì)的介質(zhì)損耗必然介于損耗大的一相和損耗小的一相之間。

    表征:

    電介質(zhì)在恒定電場(chǎng)作用下,介質(zhì)損耗的功率為

      W=U2/R=(Ed)2S/ρd=σE2Sd

    定義單位體積的介質(zhì)損耗為介質(zhì)損耗率為

    ω=σE2

    在交變電場(chǎng)作用下,電位移D與電場(chǎng)強(qiáng)度E均變?yōu)閺?fù)數(shù)矢量,此時(shí)介電常數(shù)也變成復(fù)數(shù),其虛部就表示了電介質(zhì)中能量損耗的大小。

    D,E,J之間的相位關(guān)系圖

    D,E,J之間的相位關(guān)系圖

    如圖所示,從電路觀點(diǎn)來(lái)看,電介質(zhì)中的電流密度為

    J=dD/dt=d(εE)/dt=Jτ+iJe

    式中Jτ與E同相位。稱為有功電流密度,導(dǎo)致能量損耗;Je,相比較E超前90°,稱為無(wú)功電流密度。

    定義

    tanδ=Jτ/Je=ε〞/εˊ

    式中,δ稱為損耗角,tanδ稱為損耗角正切值。

    損耗角正切表示為獲得給定的存儲(chǔ)電荷要消耗的能量的大小,是電介質(zhì)作為絕緣材料使用時(shí)的重要評(píng)價(jià)參數(shù)。為了減少介質(zhì)損耗,希望材料具有較小的介電常數(shù)和更小的損耗角正切。損耗因素的倒數(shù)Q=(tanδ)-1在高頻絕緣應(yīng)用條件下稱為電介質(zhì)的品質(zhì)因素,希望它的值要高。

    工程材料:離子晶體的損耗,離子晶體的介質(zhì)損耗與其結(jié)構(gòu)的緊密程度有關(guān)。

    緊密結(jié)構(gòu)的晶體離子都排列很有規(guī)則,鍵強(qiáng)度比較大,如α-Al2O3、鎂橄欖石晶體等,在外電場(chǎng)作用下很難發(fā)生離子松弛極化,只有電子式和離子式的位移極化,所以無(wú)極化損耗,僅有的一點(diǎn)損耗是由漏導(dǎo)引起的(包括本質(zhì)電導(dǎo)和少量雜質(zhì)引起的雜質(zhì)電導(dǎo))。這類晶體的介質(zhì)損耗功率與頻率無(wú)關(guān),損耗角正切隨頻率的升高而降低。因此,以這類晶體為主晶相的陶瓷往往用在高頻場(chǎng)合。如剛玉瓷、滑石瓷、金紅石瓷、鎂橄欖石瓷等

    結(jié)構(gòu)松散的離子晶體,如莫來(lái)石(3Al2O3·2SiO2)、董青石(2MgO·2Al2O3·5SiO2)等,其內(nèi)部有較大的空隙或晶格畸變,含有缺陷和較多的雜質(zhì),離子的活動(dòng)范圍擴(kuò)大。在外電場(chǎng)作用下,晶體中的弱聯(lián)系離子有可能貫穿電極運(yùn)動(dòng),產(chǎn)生電導(dǎo)打耗。弱聯(lián)系離子也可能在一定范圍內(nèi)來(lái)回運(yùn)動(dòng),形成熱離子松弛,出現(xiàn)極化損耗。所以這類晶體的介質(zhì)損耗較大,由這類品體作主晶相的陶瓷材料不適用于高頻,只能應(yīng)用于低頻場(chǎng)合。

    玻璃的損耗

    復(fù)雜玻璃中的介質(zhì)損耗主要包括三個(gè)部分:電導(dǎo)耗、松弛損耗和結(jié)構(gòu)損耗。哪一種損耗占優(yōu)勢(shì),取決于外界因素溫度和電場(chǎng)頻率。高頻和高溫下,電導(dǎo)損耗占優(yōu)勢(shì):在高頻下,主要的是由弱聯(lián)系離子在有限范圍內(nèi)移動(dòng)造成的松弛損耗:在高頻和低溫下,主要是結(jié)構(gòu)損耗,其損耗機(jī)理目前還不清楚,可能與結(jié)構(gòu)的緊密程度有關(guān)。般來(lái)說(shuō),簡(jiǎn)單玻璃的損耗是很小的,這是因?yàn)楹?jiǎn)單玻璃中的“分子”接近規(guī)則的排列,結(jié)構(gòu)緊密,沒有弱聯(lián)系的松弛離子。在純玻璃中加人堿金屬化物后。介質(zhì)損耗大大增加,并且隨著加人量的增大按指數(shù)規(guī)律增大。這是因?yàn)閴A性氧化物進(jìn)人玻璃的點(diǎn)陣結(jié)構(gòu)后,使離子所在處點(diǎn)陣受到破壞,結(jié)構(gòu)變得松散,離子活動(dòng)性增大,造成電導(dǎo)損耗和松弛損耗增加。

    陶瓷材料的損耗

    陶瓷材料的介質(zhì)損耗主要來(lái)源于電導(dǎo)損耗、松弛質(zhì)點(diǎn)的極化損耗和結(jié)構(gòu)損耗。此外,表面氣孔吸附水分、油污及灰塵等造成的表面電導(dǎo)也會(huì)引起較大的損耗。

    在結(jié)構(gòu)緊密的陶瓷中,介質(zhì)損耗主要來(lái)源于玻璃相。為了改善某些陶瓷的工藝性能,往往在配方中引人此易熔物質(zhì)(如黏土),形成玻璃相,這樣就使損耗增大。如滑石瓷、尖晶石瓷隨黏土含量增大,介質(zhì)損耗也增大。因面一般高頻瓷,如氧化鋁瓷、金紅石等很少含有玻璃相。大多數(shù)電陶瓷的離子松弛極化損耗較大,主要的原因是:主晶相結(jié)構(gòu)松散,生成了缺固濟(jì)體、多品型轉(zhuǎn)變等。

    高分子材料的損耗

    高分子聚合物電介質(zhì)按單體單元偶極矩的大小可分為極性和非極性兩類。一般地,偶極矩在0~0.5D(德拜)范圍內(nèi)的是非極性高聚物;偶極矩在0.5D以上的是極性高聚物。非極性高聚物具有較低的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗,其介電常數(shù)約為2,介質(zhì)損耗小于10-4;極性高聚物則具有較高的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗,并且極性愈大,這兩個(gè)值愈高。

    高聚物的交聯(lián)通常能阻礙極性基團(tuán)的取向,因此熱固性高聚物的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗均隨交聯(lián)度的提高而下降。酚醛樹脂就是典型的例子,雖然這種高聚物的極性很強(qiáng),但只要固化比較完全,它的介質(zhì)損耗就不高。相反,支化使分子鏈間作用力減弱,分子鏈活動(dòng)能力增強(qiáng),介電常數(shù)和介質(zhì)損耗均增大。

    高聚物的凝聚態(tài)結(jié)構(gòu)及力學(xué)狀態(tài)對(duì)介電性景響也很大。結(jié)品能鏈段上偶極矩的取向極化,因此高聚物的介質(zhì)損耗隨結(jié)晶度升高而下降。當(dāng)高聚物結(jié)晶度大于70%時(shí),鏈段上的偶極的極化有時(shí)被,介電性能可降至低值,同樣的道理,非晶態(tài)高聚物在玻璃態(tài)下比在高彈態(tài)下具有更低的介質(zhì)損耗。此外,高聚物中的增塑利、雜質(zhì)等對(duì)介電性能也有很大景響。

    介質(zhì)損耗(dielectric loss )指的是絕緣材料在電場(chǎng)作用下,由于介質(zhì)電導(dǎo)和介質(zhì)極化的滯后效應(yīng),在其內(nèi)部引起的能量損耗。也叫介質(zhì)損失,簡(jiǎn)稱介損。

    介質(zhì)損耗因數(shù)(dielectric loss factor)指的是衡量介質(zhì)損耗程度的參數(shù)?!疽罁?jù)標(biāo)準(zhǔn)】GB/T 16491、GB/T 1040、GB/T 8808、GB/T 13022、GB/T 2790、GB/T 2791、GB/T 2792、GB/T 16825、GB/T 17200、GB/T 3923.1、GB/T 528、GB/T 2611、GB/T 6344、GB/T 20310、GB/T 3690、GB/T 4944、GB/T 3686、GB/T 529、GB/T 6344、GB/T 10654、HG/T 2580、JC/T 777、QB/T 2171、HG/T 2538、CNS 11888、JIS K6854、PSTC-7、ISO 37、AS 1180.2、BS EN 1979、BSEN ISO 1421、BS EN ISO 1798、BS EN ISO 9163、DIN EN ISO 1798、GOST 18299、DIN 53357、ISO 2285、ISO 34-1、ISO 34-2、BS 903、BS 5131、DIN EN 12803、DIN EN 12995、DIN53507-A、DIN53339、ASTM D3574、ASTM D6644、ASTM D5035、ASTM D2061、ASTM D1445、ASTM D2290、ASTM D412、ASTM D3759/D3759M

    功能介紹

    1.自動(dòng)停機(jī):試樣破壞后,移動(dòng)橫梁自動(dòng)停止移動(dòng)(或自動(dòng)返回初始位置、

    2.自動(dòng)換檔:根據(jù)試驗(yàn)力大小自動(dòng)切換到適當(dāng)?shù)牧砍蹋源_保測(cè)量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性

    3.條件模塊:試驗(yàn)條件和試樣原始數(shù)據(jù)可以建立自己的標(biāo)準(zhǔn)模塊的形式存儲(chǔ);方便用戶的調(diào)用和查看,節(jié)省試驗(yàn)時(shí)間

    4.自動(dòng)變速:試驗(yàn)過(guò)程的位移速度或加載速度可按預(yù)先編制、設(shè)定的程序自動(dòng)完成也可手動(dòng)改變

    5.自動(dòng)程制:根據(jù)試驗(yàn)要求,用戶可方便的建立自己的試驗(yàn)?zāi)0澹ǚ椒?、,便于二次調(diào)用,可實(shí)現(xiàn)試驗(yàn)加載速度、應(yīng)力、應(yīng)變的閉環(huán)試驗(yàn)控制

    6.自動(dòng)保存:試驗(yàn)結(jié)束,試驗(yàn)數(shù)據(jù)和曲線計(jì)算機(jī)自動(dòng)保存,杜絕因忘記存盤而引起的數(shù)據(jù)丟失

    7.測(cè)試過(guò)程:試驗(yàn)過(guò)程及測(cè)量、顯示、分析等均由微機(jī)完成

    8.批量試驗(yàn):對(duì)相同參數(shù)的試樣,一次設(shè)定后可順次完成一批試驗(yàn)

    9.試驗(yàn)軟件:中文Windows用戶界面,操作簡(jiǎn)便

    10.顯示方式:數(shù)據(jù)與曲線隨試驗(yàn)過(guò)程動(dòng)態(tài)顯示

    11.曲線遍歷:試驗(yàn)完成后,可對(duì)曲線進(jìn)行放大再分析,用鼠標(biāo)查到試驗(yàn)曲線上各點(diǎn)對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)

    12.試驗(yàn)報(bào)告:可根據(jù)用戶要求進(jìn)行編輯打印

    13.限位保護(hù):具有程控和機(jī)械兩級(jí)限位保護(hù)

    14.過(guò)載保護(hù):當(dāng)負(fù)荷超過(guò)額定值3~5%時(shí),自動(dòng)停機(jī)

    15.報(bào)告顯示:自動(dòng)和人工兩種模式求取各種試驗(yàn)結(jié)果,自動(dòng)形成報(bào)表,使數(shù)據(jù)分析過(guò)程變的簡(jiǎn)單,便于用戶

    16.添加試驗(yàn)方法:用戶可跟據(jù)試驗(yàn)要求,添加試驗(yàn)方法

    軟件說(shuō)明

    a.軟件系統(tǒng):中英文Windows2000/XP/Win7平臺(tái)下軟件包

    b.自動(dòng)儲(chǔ)存:試驗(yàn)條件、試驗(yàn)結(jié)果、計(jì)算參數(shù)、標(biāo)距位置自動(dòng)儲(chǔ)存。

    c.自動(dòng)返回:試驗(yàn)結(jié)束后,試驗(yàn)機(jī)橫梁會(huì)自動(dòng)返回到試驗(yàn)初始位置。

    d.連續(xù)試驗(yàn):一批試驗(yàn)參數(shù)設(shè)定完成后,可連續(xù)進(jìn)行測(cè)試。

    e.多種曲線:同一圖形上可顯示多種不同的曲線:荷重--位移、荷重-時(shí)間、位移--時(shí)間、應(yīng)力—應(yīng)變、荷重—兩點(diǎn)延伸等到多種曲線。

    f.曲線對(duì)比:同組試樣的曲線可在同一張圖上疊加對(duì)比。

    g.報(bào)告編輯:可按用戶要求輸出不同的報(bào)告形式。

    h.動(dòng)態(tài)顯示:測(cè)試過(guò)程中,負(fù)荷、伸長(zhǎng)、位移及選中的試驗(yàn)曲線隨著測(cè)試的進(jìn)行,實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)顯示在主控屏幕上。

    i.自動(dòng)變標(biāo):試驗(yàn)中負(fù)荷、伸長(zhǎng)等曲線坐標(biāo),如果選擇不當(dāng),可根據(jù)實(shí)測(cè)值的大小,自動(dòng)變換座標(biāo)。保證在任何情況下 曲線以大的形式顯示在屏幕上。

    j.峰值保持:在測(cè)試的整個(gè)過(guò)程中,測(cè)試項(xiàng)目的大值始終隨著試驗(yàn)的進(jìn)行,在屏幕窗口上顯示。

    k.執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):滿足GB、ISO、JIS、ASTM、DIN等多種試驗(yàn)方法和標(biāo)準(zhǔn)。

    試驗(yàn)機(jī)儀表:本儀表采用國(guó)際比較先進(jìn)的放大器,A/D、微處理器、高性能高清晰的液晶顯示屏構(gòu)成,整個(gè)系統(tǒng)采用類似手機(jī)PDA鍵盤,光標(biāo)導(dǎo)航,全中文顯示,浮點(diǎn)數(shù)數(shù)據(jù)處理,結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單操作方便,自動(dòng)計(jì)算存儲(chǔ),適合于企業(yè),質(zhì)檢單位材料力學(xué)儀表。

    工作環(huán)境條件1 在室溫100C~350C范圍內(nèi),相對(duì)濕度不大于80%;2 在穩(wěn)固的基礎(chǔ)或工作臺(tái)上正確安裝,水平度為0.2/1000;3 在無(wú)震動(dòng)、無(wú)腐蝕性介質(zhì)和無(wú)較強(qiáng)電磁場(chǎng)干擾的環(huán)境中;4 電源電壓的波動(dòng)范圍不應(yīng)超出額定電壓的±10%。

    結(jié)構(gòu)特征及工作原理

    本機(jī)由機(jī)械、電氣二大部分組成。

    1機(jī)械部分結(jié)構(gòu)及工作原理:

    本機(jī)采用電動(dòng)加載方式,底部是整機(jī)結(jié)構(gòu)承載支架,內(nèi)部包含有電機(jī)驅(qū)動(dòng)器、加載電機(jī)、減速機(jī)構(gòu)、動(dòng)力傳動(dòng)機(jī)構(gòu)等部件;上部是試樣夾持及力值、位移測(cè)量機(jī)構(gòu),包含有試樣拉伸夾具、測(cè)力傳感器、位移傳感器等主要部件。

    2 電氣部分:

        電氣部分由顯示測(cè)量控制部分組成。顯示測(cè)量控制部分實(shí)現(xiàn)各種控制、顯示、數(shù)據(jù)采集、處理等功能。軟件部分的操作請(qǐng)仔細(xì)閱讀《軟件說(shuō)明書》。

    3 本機(jī)的幾項(xiàng)主要功能:

    3.1 全開放性參數(shù)設(shè)置

    3.2 設(shè)置參數(shù)保存

    3.3 浮動(dòng)零點(diǎn)設(shè)置,可隨時(shí)調(diào)整零點(diǎn)

    3.4 峰值保持及存儲(chǔ),常值跟隨;

    3.5 在有效速度范圍內(nèi),速度值任意設(shè)置;

    3.6 橫梁移動(dòng)過(guò)程中的速度快捷切換功能

    3.7 靈活的數(shù)據(jù)查詢顯示功能;

    3.8 過(guò)載停機(jī)保護(hù)功能;

    串聯(lián)諧振電路中,有效電阻R,除被測(cè)電感有效電阻外,還包括Q表內(nèi)部調(diào)諧電容器,指示電壓表,寬帶變壓器和接線柱等損耗等效電阻值。所以Q表測(cè)得值將稍低于被測(cè)電感的實(shí)際的有效Q值。

    基于上述理由,為了正確地測(cè)量元件的Q值,還需要考慮到測(cè)試回路中殘余參數(shù)的影響。

    本機(jī)測(cè)試回路中殘余成分是很小的,對(duì)一般的測(cè)量可予忽略,即Q表指示

    讀得值等于被測(cè)元件的有效Q值。對(duì)測(cè)試頻率高于10MHz,又要較高精確度時(shí),需按均值進(jìn)行修正。均值的高低能直接表征Q表自身回路的品質(zhì)優(yōu)劣。不能提供均值的Q表,其測(cè)得Q值的有效性不能得到確認(rèn)。Q表修正值見第13頁(yè)的表格。(1) Q量程鍵:開機(jī)默認(rèn)狀態(tài)為Q值手動(dòng)量程(Manual)的MQ檔。按Q量程鍵即為Q值自動(dòng)量程(Auto),再按該鍵,又為手動(dòng)量程。

    (2) Q記憶鍵:按該鍵即能實(shí)現(xiàn)Q值自動(dòng)記憶功能,此時(shí)顯示屏上以較小字體 顯示的Q值為調(diào)諧過(guò)程中的變化值,而Q值框內(nèi)為諧振峰值,即Q值。

    (3) Σ測(cè)量鍵:這是對(duì)絕緣材料進(jìn)行介電常數(shù)(ε)和損耗角正切值(tanδ)測(cè)量的功能鍵。要完成該功能測(cè)量還需相應(yīng)的測(cè)試夾具和調(diào)諧電感器的配合。

    (4) Q預(yù)置鍵,當(dāng)按鍵后,即能把當(dāng)時(shí)顯示的Q值作為預(yù)置值,以后當(dāng)測(cè)試超過(guò)該值時(shí),會(huì)顯示“GO”并蜂鳴,表示超過(guò)原預(yù)置值。適宜于批量元件測(cè)試。

    (5) 彩屏顯示區(qū),(見4.3顯示屏示意圖五)。

    (6) 頻率設(shè)置數(shù)字和小數(shù)點(diǎn)鍵共11個(gè)。。

    (7) “SET”鍵,快速按一次該鍵,就進(jìn)入頻率值數(shù)字設(shè)置狀態(tài),通過(guò)11個(gè)數(shù)字和小數(shù)點(diǎn)鍵設(shè)置具體頻率值,顯示屏左上方顯示設(shè)置的頻率值,再按一次“SET”鍵,即完成頻率數(shù)字設(shè)置。

    (8) 信號(hào)輸出端口:能輸出測(cè)試信號(hào),頻率從1kHz至70MHz,幅值約50mV(1kΩ)。

    (9) 當(dāng)長(zhǎng)按“SET”鍵后,頻率顯示會(huì)從四位數(shù)顯改變?yōu)榘宋粩?shù)顯,其中一位數(shù)在閃變,這時(shí)調(diào)此頻率調(diào)節(jié)旋鈕,順時(shí)針轉(zhuǎn)動(dòng)頻率,反之,降低頻率值。

    電壓擊穿測(cè)試儀,體積表面電阻率測(cè)試儀,介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀,漏電起痕試驗(yàn)儀,耐電弧試驗(yàn)儀,TOC總有機(jī)碳分析儀,完整性測(cè)試儀,無(wú)轉(zhuǎn)子硫化儀,門尼粘度試驗(yàn)機(jī),熱變形維卡溫度測(cè)定儀,簡(jiǎn)支梁沖擊試驗(yàn)機(jī),毛細(xì)管流變儀,橡膠塑料滑動(dòng)摩擦試驗(yàn)機(jī),氧指數(shù)測(cè)定儀,水平垂直燃燒試驗(yàn)機(jī),熔體流動(dòng)速率測(cè)定儀,低溫脆性測(cè)試儀,拉力試驗(yàn)機(jī),海綿泡沫壓陷硬度測(cè)試儀,海綿泡沫落球回彈測(cè)試儀,海綿泡沫壓縮永九變形試驗(yàn)儀

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