全自動Χ光沉降粒度分析儀 SediGraph Ⅲ Plus

產品簡介

新一代的粒度儀將成熟的SediGraph分析技術與先進的檢測儀器功能相結合，提供卓越的重復性、準確性和重現(xiàn)性。SediGraphIII粒度儀通過X射線吸收測量樣品質量，利用國際標準的沉降法測量粒度，無需建模。該產品的技術已成為全球造紙、陶瓷、磨料等數(shù)個行業(yè)的金色標準。

SediGraph粒度儀使用沉降法從均相液體中分析不同大小的固體顆粒物。通過對X-射線的吸收測量可以直接檢測分離固體顆粒物的質量濃度。測定一定密度顆粒在已知密度和粘度的液體中的沉降，即可以運用Stokes方程來計算顆粒的等效球直徑。在這種情況下，報告中的粒徑就是與測試顆粒具有相同沉降速度的等效球的直徑。

技術特點

• 粒度儀高精度X射線管，7年保修

• 簡化的泵系統(tǒng)，確?？焖俜治霾⒁子诰S護

• 低噪音，提供安靜的工作環(huán)境

• 維護提醒裝置，根據(jù)已分析的樣品數(shù)自動提醒維護

• 混合室溫度電腦控制，提高重復性與重現(xiàn)性

• 多功能報告系統(tǒng)可提供包括顆粒沉降速度和粒度等多種數(shù)據(jù)顯示選項

• 操作軟件可連接網絡，提供點擊選擇、網絡化、打印機選擇、剪切和粘貼等功能

• SediGraph粒度儀完全符合ASTM B761-06(2011)、ASTM C958-92(2007)、ISO 13317-1:2001、ISO 13317-3:2001等國際標準

產品應用

SediGraph粒度儀適合于各種無機材料顆粒大小的分析研究尤其是非金屬礦物，例如：高嶺土、重鈣、輕鈣、粘土、泥漿等材料的分析，是高嶺土，重鈣，輕鈣粒徑的標準分析儀器。