集成電路卡扭曲試驗(yàn)機(jī)

本儀器針對性IC卡在國標(biāo)GB/T 16649.1，國標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998國際標(biāo)準(zhǔn)等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲、扭矩的試驗(yàn); 完全符合以上標(biāo)準(zhǔn)。

外形尺寸：L670 X W380 X H220

器重量：70kg

：AC220V±5%

功 率：35W

速度：曲 扭曲30r/min及0.5Hz

周期：1~9999次

扭曲度 ：±15°±1° 向d=86 mm

正反向各15°，總扭曲角度30°

長邊最大位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)

長邊最小位移量為2mm±0.50mm，

短邊最大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)

長邊最小位移量為1mm±0.50mm，

夾具安裝尺寸完全按照國家標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。

1、 IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)主機(jī)一臺(tái)；

2、配置：

1）常用調(diào)試工具一套：

2）臺(tái)灣STK交流調(diào)速電機(jī)系統(tǒng)一套；

3）臺(tái)灣衡翼高精度齒輪減速系統(tǒng)一套；

4）高精度光電計(jì)數(shù)器一套

4）臺(tái)灣衡翼高精度計(jì)數(shù)系統(tǒng)一套；

3、產(chǎn)品用途：

用于檢測磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測試。