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    法國掃描探針顯微鏡

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    詳細(xì)介紹

    CSI原子力顯微鏡的詳細(xì)介紹

    多種工作模式

    接觸模式

    輕敲模式

    CAFM(導(dǎo)電AFM)

    PFM(壓電力)

    MFM/EFM(磁力/靜電力)

    FMM(力調(diào)制)

    HD-KFM(開爾文力)

    ResiScope(擴散電阻)

    STM

    **的電特性測量模塊

    HD-KFM :

    市場上最高的分辨率和靈敏度

    更好的算法,更好的鎖相靈敏度

    易用使用,自動調(diào)用智能算法

    ResiScope :

    10個數(shù)量級測量范圍從100Ω~1TΩ之間(競爭者最多只覆蓋了7個數(shù)量級)

    較低的電流流經(jīng)探針/樣品(不會局部氧化,不會因為高電流損害探針/樣品)

    同時兼容AC模式成像和EFM/MFM模式或者HD-KFM模式,不用做任何變動而丟失樣品的位置!

    Soft-ResiScope :

    仍然有10個數(shù)量級的測量范圍,更適合軟性樣品成像和電阻/電流測量。

    適用于多種環(huán)境的測量

    溫度控制:

    最高可達(dá)200°

    對于壓電器件可以進(jìn)行更穩(wěn)定的加熱分離(不漂移)

    與大氣控制、液體模式和所有電測量模式(KFM,CAFM, ResiScope…)相兼容

    大氣控制(氣體和濕度):

    濕度控制不會損害光電探測器和激光器

    光電探測器和激光器可以正常調(diào)節(jié)對齊

    容易和快速設(shè)置

    與所有電測量模式(KFM,CAFM, ResiScope…)相兼容

    液體測量:

    壓電保護(hù)

    激光容易對準(zhǔn)(可以利用頂部CCD在空氣中對準(zhǔn)激光)

    非常穩(wěn)定的輕敲模式的使用

    高品質(zhì)的測量

    平移式壓電掃描器:

    三軸獨立

    低噪音,具有原子級分辨率

    最大100μm掃描,Z方向9μm

    智能化AFM

    低噪聲低功耗相干激光器

    低噪音控制器(低電壓驅(qū)動壓電掃描器)

    24位DAC控制

    大范圍掃描,高分辨率,且無需更換掃描器。

    易于使用

    自動調(diào)諧集成鎖相

    自動設(shè)置的電子系統(tǒng)

    頂部和側(cè)面CCD視圖

    直觀的軟件和預(yù)先配置的AFM模式

    主要的參數(shù)指標(biāo)

    1、XY掃描分辨率:0.06nm

    2、Z掃描分辨率:0.006nm

    3、掃描范圍:XY向100um,Z向9um

    4、超低噪音高壓:典型值:<0.01 mV RMS

    5、數(shù)據(jù)采樣點:高達(dá)4096

    6、DAC輸出:6個D/A轉(zhuǎn)換器-24位

    7、ADC輸入:8個A/D轉(zhuǎn)換器-16位

    8、集成鎖相:高達(dá)6MHz

    9、控制器電源:AC 100~240 V,47~63 Hz

    10、計算機接口:USB2.0/3.0

    11、運行環(huán)境:運行于Windows XP/7/8/10操作系統(tǒng)

    CSI原子力顯微鏡應(yīng)用領(lǐng)域

    金屬,納米材料,高分子聚合物,薄膜&涂層,DNA,蛋白質(zhì),半導(dǎo)體,光電材料,

    太陽能電池,蓄電池,電化學(xué)領(lǐng)域,磁性材料,壓電領(lǐng)域,分子電子或組織,導(dǎo)電材料表面表征…

    CSI原子力顯微鏡應(yīng)用實例

    C36分子 掃描范圍250nm DNA 掃描范圍1μm

    高分子聚合物(PDES) 掃描范圍12μm

    石墨烯掃描范圍10μm

    磁性三角形結(jié)構(gòu)掃描范圍4.5μm

    上海曼戈斐光學(xué)推出樣品免費檢測體驗并附有詳細(xì)檢測報告,熱忱歡迎您的垂詢!

    廠商推薦產(chǎn)品

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