JCM-7000 NeoScope? 臺式掃描電子顯微鏡

      JCM-7000是日本電子2019年4月新推出的一款臺式掃描電子顯微鏡。其不僅繼承了日本電子大型電鏡強大的功能，相對于大型掃描電鏡，其自動化程度高，操作簡單便捷，維護保養(yǎng)容易，體積小巧，價格低廉，檢測速度快，從啟動裝填樣品到測試出結(jié)果僅需5分鐘左右。JCM-7000還創(chuàng)新的加入了實時能譜分析和實時3D顯示的功能，更高xiao便捷的服務(wù)于您的研究和工作。

JCM-7000臺式掃描電子顯微鏡主要功能：

◆       在同一個視野上可以從光學圖像無縫過渡到（SEM）圖像

◆       邊觀察邊進行元素分析

◆       通過自動功能使圖像從低倍率到高倍率變得更容易

◆       低真空 (LV) 模式可以用來直接觀測不導電的樣品

◆       高真空 (HV) 模式可以進行高倍率詳細形貌的觀察

◆       在同一視野上可以實時顯示3D圖像 (Live 3D)

◆      自動布局且可以一鍵輸出結(jié)果（SMILE VIEW TM  Lab)

下面介紹幾個典型觀測實例方便您對我們這款產(chǎn)品有一個更直觀深入的了解：

   上圖的樣品是巖鹽，JCM-7000可以在同一個視野下由光學成像自動連續(xù)無縫過渡到SEM成像。

   上圖的樣品是合金，JCM-7000通過高靈敏度能譜探測器既可以實時顯示視野范圍中的主要組成元素，還能實時顯示樣品中各種元素的面分布情況。

  上圖的樣品是螺絲，JCM-7000采用新型高靈敏度4分割背散射電子探測器，實現(xiàn)了四種掃描電鏡（成分、凹凸、陰影）圖像和三維圖像的采集和顯示，可以實時顯示樣品表面的3D形貌,通過右邊的形貌維彩圖可以清晰看出螺絲的凹凸紋理。  

   上圖的樣品是SUS304不銹鋼，使用JCM-7000，可以精細分析樣品斷裂的細節(jié)，包括斷裂面的表面形貌，斷裂起始點材料的元素分析，以及材料中夾雜物的識別等，由此推斷其斷裂成因。  

   上圖的樣品是玻璃，眾所周知透明樣品使用光學顯微鏡很難觀察形貌，而利用SEM觀察，可以清楚的觀察到樣品表面形貌，放大后各種細節(jié)也清晰可見。

    最hou給大家分享這款設(shè)備的基本測試流程，圖中我們可以看整個測試流程是十分簡單和便捷，用戶輕松迅速的就能掌握設(shè)備的使用。另外，它從啟動裝填樣品到測試出結(jié)果僅需5分鐘左右，gao效快速的測試速度也能給我們工作效率的提升帶來ji大的助力！

參數(shù)信息：