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帕納克pyrean銳影X射線衍射儀
- 品牌:荷蘭帕納科
- 型號(hào): Empyrean銳影
- 產(chǎn)地:歐洲 荷蘭
- 供應(yīng)商報(bào)價(jià):面議
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北京奧陶科技有限公司
更新時(shí)間:2018-09-27 09:16:08
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銷售范圍售全國(guó)
入駐年限第8年
營(yíng)業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類產(chǎn)品分析儀器(2件)
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產(chǎn)品特點(diǎn)
- Empyrean銳影X射線衍射系統(tǒng)是荷蘭帕納科公司(原飛利浦分析儀器)繼X’Pert 專家系統(tǒng)后,在Piccton發(fā)布的全新X射線衍射儀。其前身X’Pert 專家系統(tǒng)在全球的銷量超過2500臺(tái),是目前保有量zui高的X射線衍射儀系統(tǒng)。銳影系統(tǒng)吸收了X’Pert Pro的固有優(yōu)點(diǎn),在此基礎(chǔ)上進(jìn)行創(chuàng)新。在開發(fā)Empyrean 銳影的過程中,帕納科對(duì)XRD 平臺(tái)的許多關(guān)鍵部分全面進(jìn)行了重新設(shè)計(jì)。X 射線源、測(cè)角儀、樣品臺(tái)、探測(cè)系統(tǒng)與機(jī)柜保護(hù)系統(tǒng)都是全新設(shè)計(jì)。銳影系統(tǒng)突破了傳統(tǒng)的2D平面視界,可配置CT斷層影像功能,從而進(jìn)入3D世界。自銳影發(fā)布以來,屢受好評(píng),獲得國(guó)際知名儀器分析雜志《儀器市場(chǎng)展望》(Instrument Business Outlook)選為在Pittcon 2010**新品選擇獎(jiǎng);被ZG科學(xué)儀器發(fā)展年會(huì)(ACCSI)評(píng)為2010科學(xué)儀器新產(chǎn)品獎(jiǎng);獲2011年度R&D100大獎(jiǎng)。
詳細(xì)介紹
儀器特點(diǎn)
1.光管:第三代X光管技術(shù),全部采用金屬陶瓷材料制造。陽(yáng)極靶材與燈絲經(jīng)過三維高精度定位,更換X光管無需重新校準(zhǔn)光路。
2.測(cè)角儀系統(tǒng):采用第二代DOPS直接光學(xué)位置定位系統(tǒng),精度萬分之一。采用jing準(zhǔn)的Haidenhain 光學(xué)編碼器, PTT軌跡追蹤技術(shù)和DSP數(shù)字信號(hào)反饋技術(shù)等三大新技術(shù)。全部測(cè)角儀為高分辨測(cè)角儀,可控最小步進(jìn)為0.0001度,測(cè)角儀可以精確停在任意指定角度。帕納科的設(shè)計(jì)將光學(xué)系統(tǒng)固定于測(cè)角儀軸上,位于機(jī)械誤差產(chǎn)生之后,直接測(cè)量測(cè)角儀的角度位置,形成一個(gè)閉環(huán)反饋系統(tǒng)。由于直接測(cè)量測(cè)角儀的實(shí)際轉(zhuǎn)動(dòng)角度,自動(dòng)修正機(jī)械傳動(dòng)造成的誤差,徹底消除傳統(tǒng)設(shè)計(jì)上無法避免的步進(jìn)馬達(dá)與測(cè)角儀之間由于機(jī)械傳動(dòng)如齒間隙、機(jī)械磨損等帶來的誤差,可保持精度不變。線性度好,整個(gè)測(cè)角儀的線性度在±0.01°。
3.PIXcel3D是帕納科公司推出的超級(jí)探測(cè)器-二維矩陣探測(cè)器:歐洲核能實(shí)驗(yàn)室CERN及眾多實(shí)驗(yàn)室聯(lián)合打造,Medipix2ZG技術(shù),使用于歐洲強(qiáng)子對(duì)撞機(jī)(LHC),代表當(dāng)今探測(cè)器的最高水準(zhǔn),帕納科獲獨(dú) 家授權(quán)。該探測(cè)器的子探測(cè)器數(shù)目超過65000個(gè),0維/1維/2維都可以使用,適應(yīng)所有應(yīng)用要求;可以設(shè)定為256個(gè)通道的陣列探測(cè)器使用,強(qiáng)度為常規(guī)探測(cè)器的250倍以上;高達(dá)1010cps的動(dòng)態(tài)范圍可以應(yīng)對(duì)任何反射率測(cè)試,可以收集直射光;子探測(cè)器大小只有55mmx55mm,可以獲得**分辨率。二維的面探功能為標(biāo)準(zhǔn)配置,直接觀測(cè)德拜環(huán),獲得二維信息。PIXcel3D探測(cè)器也是目前**能夠進(jìn)行掃描的2維探測(cè)器,可以拍攝X光片,配合CT軟件可以進(jìn)行斷層掃描獲得三維信息(照片為貝殼的CT成像)。
典型應(yīng)用范圍:粉末:物相鑒定;物相定量;結(jié)晶度測(cè)定;微結(jié)構(gòu)分析;結(jié)構(gòu)測(cè)定和精修;德拜環(huán)的直接觀測(cè);固體樣品:物相鑒定(包括反射、透射幾何);微區(qū);CT斷層影像;
技術(shù)參數(shù)
X射線發(fā)生器和機(jī)柜:
最大輸出功率: 4kW
最大管壓: 60kV,1mV/步, 機(jī)柜同步數(shù)字顯示
電源穩(wěn)定度: 0.005% ( 外電源變化10%)
X射線防護(hù)標(biāo)準(zhǔn): £1mS/h (10cm距離) Vollschutz (R?V 2002) 標(biāo)準(zhǔn)
金屬陶瓷X光管:
最大功率 : 2.2kW (Cu靶),其他靶材可選
最大管壓: 60kV
焦斑: 12x0.4mm長(zhǎng)細(xì)焦斑及點(diǎn)焦斑
保證壽命: 二年
點(diǎn)線焦斑可自由切換無需校準(zhǔn),更換光管無需校準(zhǔn)
測(cè)角儀:
*掃描方式: q/q方式
*角度重現(xiàn)性: +/- 0.0001 度
最小可控步長(zhǎng): 0.0001 度,可以停止在任何規(guī)定角度
編碼方式: 雙光學(xué)編碼
測(cè)角儀半徑: 240mm
光學(xué)編碼: 直接光學(xué)定位(DOPS2)
*馬達(dá)驅(qū)動(dòng): 直流馬達(dá)
整機(jī)重現(xiàn)性: 0.001°
探測(cè)器:
PIXcel3D 全能矩陣探測(cè)器
計(jì)數(shù)矩陣: 256x256 pixcel
像素大小: 55mmx55mm
動(dòng)態(tài)范圍: 1x1010cps
97%線性范圍: 2.5 x109cps
最小背景: 0.5 cps(全探測(cè)器)
工作方式: 0維(點(diǎn)探測(cè)器),1維(陣列探測(cè)器模式),2維(面探測(cè)器模式),3維(CT探測(cè)器模式)
CT附件
可以進(jìn)行CT斷層影像測(cè)試,提供3維信息,空間分辨率55mm3,樣品尺寸14mm3.
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