快速溫變?cè)囼?yàn)箱

設(shè)備用途：
快度溫變?cè)囼?yàn)箱適用于電工、電子產(chǎn)品整機(jī)及零部件進(jìn)行耐寒試驗(yàn)、溫度快速變化或漸變條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)。特別適用于進(jìn)行電工、電子產(chǎn)品的環(huán)境應(yīng)力篩選(ESS)試驗(yàn)。該設(shè)備主要是針對(duì)電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其他材料在高溫、低溫速變的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。
 
 
設(shè)備符合標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T10589-1989低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T2423.1-2001 IEC60068-2-1 試驗(yàn)A規(guī)程：低溫試驗(yàn)方法
GB/T2423.2-1989 IEC60068-2-2 試驗(yàn)B規(guī)程：高溫試驗(yàn)方法
GJB  150.3-1986  高溫試驗(yàn)
GJB  150.4-1986  低溫試驗(yàn)

GJB1032-90 環(huán)境應(yīng)力篩選方法