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    睿測(cè)科技 IMP220 氬離子研磨截面拋光/減薄儀

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    IMP220 氬離子研磨截面拋光/減薄儀

    電鏡制樣
    IMP220離子減薄拋光儀配置兩把寬束氬離子槍,可為透射電鏡樣品制備離子減薄樣品,也可對(duì)平整表面樣品進(jìn)行直徑20mm以上的大面積離子束拋光,去除表面污染、機(jī)械劃痕和應(yīng)力損傷層。


    ◆ 兩把寬束氬離子槍,更低的樣品熱損傷和非晶化損傷

    IMP220 的寬束氬離子槍對(duì)樣品進(jìn)行離子減薄,可獲得比聚焦型離子槍更低損傷和更大可觀察面積的薄區(qū),選配冷凍臺(tái)附件可高質(zhì)量加工熱敏感材料樣品。


    ◆ 大樣品倉和樣品臺(tái)移動(dòng)范圍,兼顧離子減薄和離子拋光

    IMP220配置多種樣品臺(tái),適用常溫或冷凍條件下的離子減薄,和用于掃描電鏡樣品的大面積離子束拋光,兼顧廣泛類型的材料電鏡樣品。


    ◆ 配置真空冷凍樣品轉(zhuǎn)移倉,真空或保護(hù)氣氛條件下轉(zhuǎn)移樣品

    IMP220通過真空冷凍樣品轉(zhuǎn)移倉裝載、轉(zhuǎn)移或卸載樣品,維持樣品倉處于高真空潔凈狀態(tài),樣品離子加工之后可在真空或保護(hù)氣氛條件下轉(zhuǎn)移至電鏡倉內(nèi)。


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