一六儀器 XAD-200 全自動(dòng)多功能 X 熒光光譜分析儀

XAD-200 是一款全元素上照式熒光光譜儀，既保留了專用測(cè)厚儀檢測(cè)微小樣品和凹槽的 膜厚性能，又可滿足RoHS有害元素檢測(cè)及成分分析，搭載全自動(dòng)平臺(tái)實(shí)現(xiàn)XYZ軸編程位移， 實(shí)現(xiàn)無(wú)人值守多點(diǎn)測(cè)量，測(cè)量軟件置入先進(jìn)的 EFP 算法及解譜技術(shù)，解決了諸多業(yè)界難題。

被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來(lái)料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量使用。

1) 搭載微聚焦加強(qiáng)型 X 射線發(fā)生器和先進(jìn)的光路轉(zhuǎn)換聚焦系統(tǒng)，zui小測(cè)量面積達(dá) 0.03mm2

2) 擁有無(wú)損變焦檢測(cè)技術(shù)，手動(dòng)變焦功能，可對(duì)各種異形凹槽件進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)，凹槽 深度范圍 0-90mm

3) 核心 EFP 算法，可對(duì)多層多元素，包括同種元素在不同層都可快、準(zhǔn)、穩(wěn)的做出數(shù) 據(jù)分析(釹鐵硼磁鐵上 Ni/Cu/Ni/FeNdB，精準(zhǔn)檢測(cè)第一層 Ni 和第三層 Ni 的厚度)

4) 配備全自動(dòng)可編程移動(dòng)平臺(tái)，可實(shí)現(xiàn)無(wú)人值守，對(duì)成百上千個(gè)樣品進(jìn)行全自動(dòng)檢測(cè) 

5) 涂鍍層分析范圍:鋰 Li(3)- 鈾 U(92)
6) 成分分析范圍:鋁 Al(13)- 鈾 U(92)
7) RoHS、鹵素有害元素檢測(cè) 

8)人性化封閉軟件，自動(dòng)判斷故障提示校正及操作步驟，避免誤操作

9) 標(biāo)配四準(zhǔn)直器自動(dòng)切換

10) 配有微光聚集技術(shù)，zui近測(cè)距光斑擴(kuò)散度小于 10%

工作條件 

工作溫度:15°C-30°C 電源:交流 220V±5V

相對(duì)濕度:<70%，無(wú)結(jié)露 功率:120W(不含計(jì)算機(jī))