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    布魯克 電子背散射衍射儀 EBSD eflash FS

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    產(chǎn)地類別:進口

    CCD相機分辨率:640 x 480

    極限速度:最快移動速度可達 10mm/s

    空間分辨率:1.5 nm

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    QUANTAX EBSD 系統(tǒng)加上廣受歡迎的 OPTIMUS TKD 探測器,是分析 SEM 中納米材料的理想化解決方案。原因如下:

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