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日立 FT230型X射線熒光測厚儀(正比例計數(shù)器)
- 品牌:日立
- 型號: FT210
- 產(chǎn)地:亞洲 日本
- 供應(yīng)商報價:面議
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日立分析儀器(上海)有限公司
更新時間:2025-04-01 11:29:03
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銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類產(chǎn)品X射線熒光分析儀(XRF)(10件)
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產(chǎn)品特點
- 日立 FT230型X射線熒光測厚儀(正比例計數(shù)器)包括用于常規(guī)測量普通電鍍的正比計數(shù)探測器,并集成先進且易于使用的功能,旨在增強大批量測試需求。
詳細介紹
產(chǎn)品介紹:
FT230 具備通過減少設(shè)置測量和處理數(shù)據(jù)所需的時間來提高生產(chǎn)率的功能。為加快分析設(shè)置,配備新型超大的樣品視圖、廣視角相機、自動對焦和自動接近功能,以及名為“Find My Part? (查找我的樣品)”的智能識別功能,該功能可自動識別待測的特定測點并選擇正確的分析方法。
FT230 擴展了 RoHS 功能
得益于新版本 FT Connect 軟件的更新, FT230 現(xiàn)在可用于檢查更多材料是否符合新的有害物質(zhì)指令。FT Connect 中的界面內(nèi)置 RoHS 篩選功能,從而確保簡單、無縫地進行分析。
日立分析儀器鍍層分析產(chǎn)品經(jīng)理 Matt Kreiner 表示:“FT210 使我們的客戶能夠為自己的鍍層應(yīng)用領(lǐng)域選擇理想的探測器。由于引入新的軟件功能,我們不斷對操作員與 XRF 鍍層分析儀的交互方式進行創(chuàng)新,通過簡化設(shè)置和減少出錯的可能性來增加測試量。通過使用 FT230,XRF 所有者可幫助操作員每天節(jié)省長達45分鐘的時間,以專注于增值任務(wù)或增加測試量。”
從簡單的電鍍層到針對微小特定測試點的復(fù)雜應(yīng)用領(lǐng)域,日立分析儀器所擁有的各種分析儀旨在幫助用戶在整個生產(chǎn)過程(包括進貨檢驗、過程控制、質(zhì)量控制)中獲得置信度高的鍍層零件測量結(jié)果。
*使用“Find My Part? (查找我的樣品)”的5點測試程序的設(shè)置時間從73秒減少到19秒?,這樣每次測試可節(jié)省54秒,每天可節(jié)省45分鐘(50次測試)。