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    產(chǎn)品中心

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    導(dǎo)熱率測(cè)定儀

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    產(chǎn)品特點(diǎn)

    DZDR-S導(dǎo)熱率測(cè)試儀是南京大展儀器生產(chǎn),采用瞬態(tài)熱源法,其特點(diǎn)示測(cè)量速度快,能夠在5~160s內(nèi)計(jì)算出導(dǎo)熱系數(shù),測(cè)試范圍廣,可對(duì)液體、粉末、固體、膏體和薄膜等進(jìn)行測(cè)試,全新的外形設(shè)計(jì),簡(jiǎn)約小巧,雙向操作簡(jiǎn)單,應(yīng)用范圍廣等優(yōu)勢(shì)。

    詳細(xì)介紹

    產(chǎn)品介紹:

    DZDR-S導(dǎo)熱率測(cè)試儀是南京大展儀器生產(chǎn),采用瞬態(tài)熱源法,其特點(diǎn)示測(cè)量速度快,能夠在5~160s內(nèi)計(jì)算出導(dǎo)熱系數(shù),測(cè)試范圍廣,可對(duì)液體、粉末、固體、膏體和薄膜等進(jìn)行測(cè)試,全新的外形設(shè)計(jì),簡(jiǎn)約小巧,雙向操作簡(jiǎn)單,應(yīng)用范圍廣等優(yōu)勢(shì)。

    推廣宣傳圖1.jpg

    測(cè)試范圍:

    DZDR-S導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀可測(cè)量塊狀固體、膏狀固體、顆粒狀固體、膠體、液體、粉末、涂層、薄膜、保溫材料等不同材料。


    測(cè)試方法:

    DZDR-S導(dǎo)熱率測(cè)試儀儀采用的是瞬態(tài)平面熱源技術(shù)(TPS),可用于各種不同類型、不同形態(tài)材料的熱傳導(dǎo)性能的測(cè)試。瞬態(tài)平面熱源法是研究熱傳導(dǎo)性能方法中新型的一種,它使測(cè)量技術(shù)達(dá)到了一個(gè)新的水平。

    20231109-1427922429.jpg

    性能優(yōu)勢(shì):

    1.直接測(cè)量,測(cè)試時(shí)間5-160s左右可設(shè)置,能快速準(zhǔn)確的測(cè)出導(dǎo)熱系數(shù),節(jié)約了大量的時(shí)間;
    2.不會(huì)和靜態(tài)法一樣受到接觸熱阻的影響;
    3.無須特別的樣品制備,對(duì)樣品形狀并無特殊要求,塊狀固體只需相對(duì)平滑的樣品表面并且滿足長(zhǎng)寬至少為探頭直徑的兩倍即可;
    4.對(duì)樣品實(shí)行無損檢測(cè),意味著樣品可以重復(fù)使用;
    5.探頭采用雙螺旋線的結(jié)構(gòu)進(jìn)行設(shè)計(jì),結(jié)合屬數(shù)學(xué)模型,利用核心算法對(duì)探頭上采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析計(jì)算;
    6.樣品臺(tái)的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)巧妙,操作方便,適合放置不同厚度的樣品,同時(shí)簡(jiǎn)潔美觀;
    7.探頭上的數(shù)據(jù)采集使用了數(shù)據(jù)采集芯片,該芯片的高分辨率,能使測(cè)試結(jié)果更加準(zhǔn)確可靠;
    8.主機(jī)的控制系統(tǒng)使用了ARM微處理器,運(yùn)算速度比傳統(tǒng)的微處理器快,提高了系統(tǒng)的分析處理能力,計(jì)算結(jié)果更加準(zhǔn)確。


    技術(shù)參數(shù):

    測(cè)試范圍0.0001—300W/(m*K)
    測(cè)量溫度范圍室溫—130℃
    探頭直徑

    一號(hào)探頭7.5mm;二號(hào)探頭15mm;

    三號(hào)探頭50mm

    精度±3%
    重復(fù)性誤差≤3%
    測(cè)量時(shí)間5~160秒
    電源AC 220V
    整機(jī)功率<500w
    測(cè)試樣品功率P 一號(hào)探頭功率0;二號(hào)探頭功率0
    樣品規(guī)格

    一號(hào)探頭所測(cè)樣品(≥15*15*3.75mm)

    二號(hào)探頭所測(cè)樣品 (≥30*30*7.5mm)

    三號(hào)探頭所測(cè)樣品 (≥50*50*7.5mm)

    (選配,也可以定制其他規(guī)格)

    定制粉末測(cè)試容器一套


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