TC Wafer熱電偶晶圓測溫系統(tǒng) 晶圓硅片測溫熱電偶 光刻機晶圓溫度測量系統(tǒng)

TC Wafer熱電偶晶圓測溫系統(tǒng) 晶圓硅片測溫熱電偶 光刻機晶圓溫度測量系統(tǒng)

引言

半導體行業(yè)的高速發(fā)展使得晶圓制造過程的溫度控制變得至關(guān)重要。溫度變化可能會對晶圓的性能、質(zhì)量和產(chǎn)量產(chǎn)生直接影響。為了實現(xiàn)更精確的溫度監(jiān)測和控制，TC Wafer熱電偶晶圓測溫系統(tǒng)應(yīng)運而生。

TC為熱電偶的簡稱， TC Wafer是直接鑲嵌于晶圓表面的溫度傳感器，可以實現(xiàn)晶圓表面溫度的實時測量。借助于放置在晶圓表面特定位置之溫度傳感器，可獲得這些特定位置的真實溫度測量值以及整天晶圓溫度分布。

產(chǎn)品介紹

TC Wafer熱電偶晶圓測溫系統(tǒng)是將高精度溫度傳感器鑲嵌在晶圓表面，對晶圓表面的溫度進行實時測量。通過晶圓的測溫點了解特定位置晶圓的真實溫度，以及晶圓整體的溫度分布，同還可以監(jiān)控半導體設(shè)備控溫過程中晶圓發(fā)生的溫度變化，獲得升溫、降溫以及恒溫過程期間的溫度溫度數(shù)據(jù)，從而了解半導體設(shè)備的溫度均勻度。

產(chǎn)品優(yōu)勢

高精度：由于其直接嵌入在晶圓表面，可以實現(xiàn)對晶圓溫度的實時、精確監(jiān)測。

可靠性：傳感器材料穩(wěn)定，適應(yīng)長期運行，不易受到外界干擾。

高靈敏度：微小的溫度變化也能被傳感器準確地捕捉，確保制程的穩(wěn)定性。

即時性：傳感器的實時性能使得生產(chǎn)線上的溫度調(diào)整能夠迅速響應(yīng)，減少生產(chǎn)過程中的溫度波動。

TC Wafer熱電偶晶圓測溫系統(tǒng) 晶圓硅片測溫熱電偶 光刻機晶圓溫度測量系統(tǒng)