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    賽默飛 K-Alpha X射線光電子能譜儀XPS

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    為您推薦

    產品特點

    高性能X射線源
    K-Alpha X射線光電子能譜儀配備的X射線單色器允許在50 μm 至 400 μm 的分析區(qū)域內以 5 μm 的步長進行選擇選擇 ,以尋求所需的信號Z大化。
    優(yōu)異的電子光學系統(tǒng)
    高效電子透鏡、半球形分析儀和檢測器,讓K-Alpha X射線光電子能譜儀可實現(xiàn)卓越的檢測和快速數(shù)據(jù)采集。
    樣品視圖
    使用K-Alpha XPS系統(tǒng)的專利光學觀察系統(tǒng)和XPS SnapMap聚焦樣品,幫助您快速確定分析測試區(qū)域。
    深度剖析
    使用K-Alpha X射線光電子能譜儀所配備的EX06離子源進行更深層表面的分析。自動源優(yōu)化和氣體處理功能確保卓越的性能和實驗重現(xiàn)性。
    可選樣品臺
    提供與K-Alpha X射線光電子能譜儀相匹配的各種特殊樣品臺供您選擇,包括用于變角 XPS、樣品加偏壓測試,或從手套箱惰性轉移樣品等等。
    絕緣樣品分析
    在K-Alpha X射線光電子能譜儀中,獲得專利的雙束電子源將低能量離子束與低能量的電子(小于 1 eV)耦合,防止分析過程中的樣品帶電,從而在大多數(shù)情況下消除了荷電效應。
    數(shù)碼控制
    由 Avantage 數(shù)據(jù)系統(tǒng)指導的直觀操作使 K-Alpha XPS 系統(tǒng)成為多用戶、測試中心和注重高效操作和高測試量的 XPS 專家的理想選擇。




    詳細介紹

    K-Alpha X 射線光電子能譜儀

    Thermo Scientific K-Alpha X射線光電子能譜儀 (XPS)系統(tǒng)為表面分析帶來了一種新方法。K-Alpha XPS 系統(tǒng)專注于使用簡化的工作流程提供高質量的結果,使 XPS 操作簡單直觀,而不會犧牲性能或功能。K-Alpha XPS系統(tǒng)是一種完全集成式單色小光斑XPS系統(tǒng),具備深度剖析能力。  

    更先進的性能、更低的價格、更容易的使用性和較大的樣品測試量,使 K-Alpha XPS 系統(tǒng)成為多用戶環(huán)境的理想選擇。K-Alpha XPS系統(tǒng)使世界各地的研究人員能夠進行表面分析。

    K-Alpha XPS系統(tǒng)性能數(shù)據(jù)

    分析儀類型 
    • 180°雙聚焦半球分析儀, 128通道探測器

    X 射線源類型
    • 單色化、微聚焦、低功率的 Al K-Alpha X 射線源 

    X 射線光斑尺寸
    • 50-400 μm(以 5μm 為單位可調)

    深度剖析
    • EX06 離子源

    樣品最大面積
    • 60x60 mm

    樣品最大厚度
    • 20 mm

    真空系統(tǒng)
    • 兩個渦輪分子泵,配有自動鈦升華泵和機械泵 

    可選配件
    • ADXPS 樣品 支架, 工作 功能 樣品 支架, 手套 箱


    技術資料

    廠商推薦產品

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