高精度源表I-V曲線掃描儀

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高精度源表I-V曲線掃描儀認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表，普賽斯儀表推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度數(shù)字源表，相比于傳統(tǒng)S系列源表，準(zhǔn)確度提升至±0.03%，直流電流升級(jí)至3A，可為半導(dǎo)體行業(yè)提供更加晶準(zhǔn)、穩(wěn)定的測(cè)試方案；

S型數(shù)字源表應(yīng)用優(yōu)勢(shì)：
1、多功能測(cè)量需求下的廣泛的適應(yīng)性，電壓高達(dá)300V，電流低至30pA；
2、實(shí)現(xiàn)“源”的輸出和“表”的測(cè)量同步進(jìn)行，提高測(cè)試效率。
3、具備對(duì)測(cè)試器件的保護(hù)功能，可進(jìn)行自我限制，避免因過充而造成的對(duì)測(cè)試器件的損害；
精確的電壓電流限制功能，為器件提供完善的保護(hù)功能，避免器件損壞。
4、觸屏圖形化操作，使用簡(jiǎn)單。開放式平臺(tái)，可根據(jù)實(shí)際應(yīng)用的需求而針對(duì)性的開發(fā)軟件。

產(chǎn)品特點(diǎn)
5寸800*480觸摸顯示屏，全圖形化操作           

內(nèi)置強(qiáng)大的功能軟件，加速用戶完成測(cè)試，如LIV、PIV

源及測(cè)量的準(zhǔn)確度為0.03%

四象限工作（源和肼），源及測(cè)量范圍：高至300V，低至3pA

豐富的掃描模式，支持線性掃描、指數(shù)掃描及用戶自定義掃描

支持USB存儲(chǔ)，一鍵導(dǎo)出測(cè)試報(bào)告

支持多種通訊方式，RS-232、GPIB及以太網(wǎng)

技術(shù)參數(shù)

Z大輸出功率：30W，4象限源或肼模式；

源限度：電壓源：±10V（≤3A量程），±30V（≤1A量程），±300V（≤100mA量程）；

電流源：±3.15安（≤10V量程），±1.05安（≤30V量程），±105mA（≤300V量程）；

過量程： 105%量程，源和測(cè)量；

穩(wěn)定負(fù)載電容：<22nF；

寬帶噪聲(20MHz)：2mV RMS（典型值），<20mV     Vp-p（典型值）；

線纜保護(hù)電壓：輸出阻抗30KΩ，輸出電壓偏移<80uV；

Z大采樣速率：1000  S/s；

觸發(fā)：支持IO觸發(fā)輸入及輸出，觸發(fā)極性可配置；

輸出接口：前后面板香蕉頭插座輸出，同一時(shí)刻只能用前或者后面板接口；

通信口：RS-232、GPIB、以太網(wǎng)；

電源：AC    100~240V      50/60Hz；

工作環(huán)境：25±10℃；

尺寸：106mm高 ×  255mm寬 × 425mm長(zhǎng)；

S系列源表應(yīng)用

分立器件特性測(cè)試：電阻、二極管、發(fā)光二極管、齊納二極管、PIN二極管、BJT三極管、MOSFET、SiC、GaN等器件；
能量與效率特性測(cè)試：LED/AMOLED、太陽(yáng)能、電池、DC/DC轉(zhuǎn)換器；
傳感器特性測(cè)試：電阻率、霍爾效應(yīng)等；
有機(jī)材料特性測(cè)試：電子墨水、印刷電子技術(shù)等；
納米材料特性測(cè)試：石墨烯、納米線等；
激光器特性測(cè)試：窄脈沖LIV測(cè)試系統(tǒng)；
功率器件：靜態(tài)測(cè)試系統(tǒng)；
電流傳感器：動(dòng)靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)；

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