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美國(guó)TA DIL 806 光學(xué)熱膨脹儀
- 品牌:美國(guó)TA儀器
- 型號(hào): DIL 806
- 產(chǎn)地:美洲 美國(guó)
- 供應(yīng)商報(bào)價(jià):面議
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云譜儀器(上海)有限公司
更新時(shí)間:2020-07-17 09:12:48
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銷(xiāo)售范圍售全國(guó)
入駐年限第9年
營(yíng)業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類(lèi)產(chǎn)品熱膨脹儀(6件)
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- 美國(guó)TA DIL 806 光學(xué)熱膨脹儀 核心參數(shù)
產(chǎn)品特點(diǎn)
- 美國(guó)TA DIL 806 光學(xué)熱膨脹儀是一款多功能的熱膨脹和收縮測(cè)量?jī)x器,該儀器使用創(chuàng)新性測(cè)量原理,能夠用于非常規(guī)性實(shí)驗(yàn),還可改善諸多常規(guī)性測(cè)試。
詳細(xì)介紹
美國(guó)TA DIL 806 光學(xué)熱膨脹儀 測(cè)試原理
DIL 806 中使用的光學(xué)熱膨脹測(cè)量方法是一個(gè)的測(cè)量過(guò)程,完全不受儀器的膨脹或收縮影響。因此,測(cè)量結(jié)果不需要根據(jù)不同的溫度程序來(lái)進(jìn)行校正或校準(zhǔn)。通過(guò)與 DIL 806 爐的快速響應(yīng)特性相結(jié)合,該系統(tǒng)非常適合涉及多個(gè)溫度步驟和動(dòng)態(tài)加熱速率的動(dòng)態(tài)分析過(guò)程。
高性能 LED 向樣品發(fā)射寬幅平面光,并由高分辨率 CCD 傳感器檢測(cè)樣品陰影。然后檢測(cè)到的信號(hào)由數(shù)字化邊緣檢測(cè)處理器進(jìn)行評(píng)估,從而靈敏并準(zhǔn)確地測(cè)量尺寸的變化。該原理被稱(chēng)為陰影光方法,能夠準(zhǔn)確、地測(cè)量樣品尺寸隨溫度的變化。
樣品被置于盤(pán)形爐的中心平臺(tái)上,不受外力作用。因此,DIL 806 膨脹儀尤其適合測(cè)量金屬,并且在配備可選的零度以下?tīng)t子時(shí)可測(cè)量塑料樣品。
薄樣品也可采用專(zhuān)為此類(lèi)應(yīng)用設(shè)計(jì)的樣品支架來(lái)輕松進(jìn)行分析。
寬幅入射光線意味著該儀器不像其他傳統(tǒng)膨脹測(cè)量技術(shù)那樣要求嚴(yán)格的樣品制備,并且樣品在平臺(tái)上的位置不需要精確定位,這樣不熟練的操作人員也可輕松使用。
儀器自動(dòng)測(cè)定和保存初始長(zhǎng)度,以用于后續(xù)的線性熱膨脹系數(shù)計(jì)算。
爐體能夠采用最高達(dá) 100 ℃/min 的速度快速加熱,并在 10 分鐘內(nèi)從 1400 ℃ 冷卻至 50 ℃。
美國(guó)TA DIL 806 光學(xué)熱膨脹儀 測(cè)試技術(shù)
光學(xué)膨脹測(cè)量
非接觸式膨脹測(cè)量允許樣品自由膨脹/收縮,不受機(jī)械接觸引起的干擾。這將更精確地測(cè)定樣本的尺寸變化以及事件發(fā)生時(shí)的溫度。并且,樣品上不存在因接觸測(cè)量系統(tǒng)而產(chǎn)生的任何負(fù)荷,從而能夠?qū)⒎治鰪能浕c(diǎn)擴(kuò)展至熔化態(tài),并且還可分析通常無(wú)法測(cè)試的軟質(zhì)樣品。
100 μm 高的檢測(cè)區(qū)域
由于采用聚焦 LED 光束,因此進(jìn)行熱膨脹測(cè)量的樣品區(qū)域允許在整個(gè)樣品長(zhǎng)度范圍內(nèi)達(dá)到 100 μm 高。與傳統(tǒng)膨脹儀不同,這樣能夠顯著簡(jiǎn)化樣品制備過(guò)程,因?yàn)闃悠返钠矫嫘约氨砻娲植诙炔粫?huì)對(duì)測(cè)量精度造成顯著影響。
樣品的水平和垂直方向均可實(shí)現(xiàn)均勻的溫度
樣品被置于可快速響應(yīng)的盤(pán)形爐的中心。該設(shè)計(jì)確保了在整個(gè)溫度分析范圍內(nèi),樣品均可獲得充分、均勻的溫度處理,并且可獲得快速的加熱/冷卻速率。
測(cè)量方法無(wú)需校準(zhǔn)和校正
陰影光方法為固有的測(cè)量方法,該方法中,樣品尺寸變化的測(cè)量不受儀器測(cè)量系統(tǒng)尺寸變化的影響,僅取決于測(cè)試溫度曲線。因此,對(duì)于需要不同加熱/冷卻曲線的測(cè)試方法,DIL 806 是一種非常靈活、高效的工具,因?yàn)闊o(wú)需運(yùn)行和保存校準(zhǔn)和/或校正曲線
環(huán)境控制
DIL 806 對(duì)測(cè)試過(guò)程中環(huán)境條件的高效控制使用戶(hù)不僅可在空氣中分析樣品,還可在真空和惰性氣體中進(jìn)行分析(這是金屬和金屬合金分析的關(guān)鍵要求)
美國(guó)TA DIL 806 光學(xué)熱膨脹儀 應(yīng)用技術(shù)
金屬 – 薄膜的熱膨脹
傳統(tǒng)上來(lái)說(shuō),由于頂桿接觸力,頂桿熱膨脹儀測(cè)量的薄膜可能是有問(wèn)題的。DIL 806光學(xué)膨脹儀是理性的表征薄膜和其他對(duì)樣品尺寸和制備有限制的材料的儀器。在這個(gè)例子中,薄鋼箔的熱膨脹和相變,由DIL 806非接觸式光學(xué)膨脹儀測(cè)量表征。測(cè)量過(guò)程是的和非接觸式的,所以不需要系統(tǒng)校準(zhǔn)曲線。有使用的樣品架支撐薄膜樣品。
快速燒成陶瓷
DIL 806固有的非??斓纳郎厮俾?、出色的溫度均勻性和簡(jiǎn)單的編程,非常適合模擬工業(yè)生產(chǎn)過(guò)程。生坯陶瓷的快速燒成過(guò)程由于可以節(jié)省能源和時(shí)間,因此是可取的。然而,在許多情況下,這種類(lèi)型的熱處理產(chǎn)生不完全的致密化產(chǎn)品。在這個(gè)例子中,樣品被迅速加熱,直到到達(dá)一個(gè)用戶(hù)定義的收縮率。在這個(gè)時(shí)候,使用多重等溫和冷卻速率,以密切檢測(cè)材料的燒結(jié)行為。通過(guò)微調(diào)這些溫度控制參數(shù),并基于熱膨脹儀測(cè)量,該工業(yè)過(guò)程可以簡(jiǎn)化,實(shí)現(xiàn)流水化生產(chǎn),生產(chǎn)出期望的物理性質(zhì)和具備加工成本優(yōu)勢(shì)的產(chǎn)品。
溫度范圍 | RT~1400℃ | 分辨率 | 50nm、0.1℃ |
樣品尺寸 | 長(zhǎng)度:0.3~30mm,高度:最大10mm |
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