Specim發(fā)布中波紅外高光譜成像儀-FX50

Specim發(fā)布首 款中波紅外高光譜成像儀-FX50

芬蘭時(shí)間4月1日上午9點(diǎn)（北京時(shí)間4月1日下午15點(diǎn)），Specim正式發(fā)布首 款適用于工業(yè)機(jī)器視覺領(lǐng)域的中波紅外高光譜成像儀——FX50。

該款產(chǎn)品 大的特點(diǎn)是，選用中波紅外（MWIR）區(qū)域，可用于識(shí)別和分類難處理的黑色塑料，分析碳?xì)浠衔锖偷V物，快速、可靠地檢測金屬表面的污染，提高準(zhǔn)確性，降低成本。因此一經(jīng)問世，便以高速、精確、高效的特點(diǎn)，引起了廣泛關(guān)注。

優(yōu)勢

市場上超緊湊和堅(jiān)固的MWIR高光譜相機(jī)

對(duì)黑色材料進(jìn)行分類識(shí)別的唯 一可靠方法

也可識(shí)別黑色ABS塑料，因?yàn)樗墓庾V區(qū)域可以延伸到5300 nm

為油氣和礦探生產(chǎn)過程中分析暗色樣品中礦物和碳?xì)浠衔锾峁┝诵碌募夹g(shù)手段

由于其在MWIR范圍的強(qiáng)光譜特征，能夠檢測低濃度雜質(zhì)

靈活性

相機(jī)覆蓋范圍內(nèi)150個(gè)波段可自由選擇

三種鏡頭可供選擇，以滿足不同帶寬需求

快速的光學(xué)設(shè)計(jì)

高靈敏度：能夠在較短積分時(shí)間內(nèi)提供良好的信號(hào)

集成方案

易于集成和更新現(xiàn)有系統(tǒng)（GigE接口）

兼容商業(yè)機(jī)器視覺軟件工具

可用Specim SDK和ASCII控制協(xié)議集成到現(xiàn)有軟件解決方案中

可用MWIR光源