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XRF鍍層測厚儀X-Strata920
- 品牌：日立
- 型號： X-Strata920
- 產(chǎn)地：亞洲 日本
- 供應商報價：面議
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日立分析儀器（上海）有限公司
更新時間：2025-04-01 11:29:03 -
銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類產(chǎn)品鍍層厚度測量儀(5件)
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產(chǎn)品特點
- X-Strata920 是一款高精度臺式 XRF 分析儀，具有多種選擇，可容納多種類型的樣品。該分析儀非常適合測量各種基材上的鍍層，是必須確定產(chǎn)品質(zhì)量的電子產(chǎn)品、連接器、裝飾品和珠寶分析的理想選擇。
詳細介紹
產(chǎn)品介紹：
X-Strata920 | 靈活多用途的臺式XRF鍍層測厚儀
精確的鍍層和珠寶分析X-Strata920 是一款高精度臺式 XRF 分析儀，具有多種選擇，可容納多種類型的樣品。該分析儀非常適合測量各種基材上的鍍層，是必須確定產(chǎn)品質(zhì)量的電子產(chǎn)品、連接器、裝飾品和珠寶分析的理想選擇。X-Strata920 的優(yōu)勢在于其多功能性。您可以從多種配置中進行選擇，包括五種基本配置以適應不同尺寸的樣品、六種準直器尺寸用于優(yōu)化分析不同尺寸的特征，以及有助于加快測量過程同時保持準確性的附加自動化功能。X-Strata920 易于使用，軟件直觀，可由非專業(yè)人員操作，并可輕松融入您的生產(chǎn)或質(zhì)量保證部門。產(chǎn)品亮點
X-Strata920 具有多種選項和多功能性，可容納各種樣品，每次都能提供精確的分析。
適應性設計，可對各種產(chǎn)品進行可靠分析
自動對焦和可選的程控臺提高了準確性和速度
直觀的 SmartLink 軟件使測量和導出數(shù)據(jù)變得容易
多準直器設計為每個樣品提供高準確性
選擇適合應用的比例計數(shù)器或硅漂移檢測器 (SDD)
符合行業(yè)規(guī)范，例如 IPC-4552A、ISO3497、ASTM B568 和 DIN50987
簡單的樣品加載和快速分析可在幾秒鐘內(nèi)提供結(jié)果
強大的光學分析單層和多層鍍層，包括合金層
對比型號
X-Strata920 （正比計數(shù)器）
X-Strata920 （硅漂移探測器）
元素范圍 Ti – U
Ai – U
樣品艙設計 開槽式 開槽式 XY 軸樣品臺 固定臺、加深臺、自動臺
固定臺、加深臺、自動臺
最 大樣品尺寸 250(寬)x200(深)x50(高)mm 250(寬)x200(深)x50(高)mm 最 大準直器數(shù)
6 6 最 大濾光片數(shù)
3 (secondary) n/a 最小準直器
0.01 x 0.25 mm (0.5 x 10 mil)
0.01 x 0.25 mm (0.5 x 10 mil)
最 大樣品臺行程
178 x 178 mm
178 x 178 mm
SmartLink 軟件
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滬公網(wǎng)安備 31011502008050號