分享 收藏

JEOL 能譜儀JED-2300/2300F

品牌：日本電子
型號： JED-2300/2300F
產地：亞洲日本
供應商報價：面議

深圳市藍星宇電子科技有限公司更新時間：2025-05-21 08:46:19

銷售范圍售全國

入駐年限第7年

營業(yè)執(zhí)照已審核

同類產品日本電子 JEOL 掃描電鏡(35件)

立即掃碼咨詢

聯(lián)系方式：13538131258

聯(lián)系我們時請說明在儀器網(wǎng)（www.vietnamtrade.org）上看到的!

掃碼分享

為您推薦

JEOL 能譜儀JED-2300/2300F 核心參數(shù)

加速電壓	詳見資料	放大倍數(shù)	詳見資料
分辨率	詳見資料	抽真空時間	詳見資料
真空度	詳見資料

產品特點

JED-2300/2300F 能譜儀，是以“圖像觀察和分析“ 為基本理念的TEM/EDS集成系統(tǒng)。通過與SEM的馬達驅動樣品臺聯(lián)動使用，可以進行大范圍的觀察和分析。 EDS通過檢測被電子束激發(fā)出的樣品特征X射線，確定樣品含有的元素及成分比，可以進行微區(qū)的點分析、線分析及面分析。

詳細介紹

JED-2300/2300F 能譜儀

JED-2300/2300F Analysis Station是以“圖像觀察和分析“ 為基本理念的TEM/EDS集成系統(tǒng)。通過與SEM的馬達驅動樣品臺聯(lián)動使用，可以進行大范圍的觀察和分析。 EDS通過檢測被電子束激發(fā)出的樣品特征X射線，確定樣品含有的元素及成分比，可以進行微區(qū)的點分析、線分析及面分析。

產品特點：

· JED-2300/2300F Analysis Station是以“圖像觀察和分析“ 為基本理念的TEM/EDS集成系統(tǒng)，通過與SEM的馬達驅動樣品臺聯(lián)動使用，可以進行大范圍的觀察和分析。EDS通過檢測被電子束激發(fā)出的樣品的特征X射線，確定樣品含有的元素及成分比，可以進行微區(qū)的點分析、線分析及面分析。

· JSM-6510/LA, JSM-6610A/LA 系列

· 可以在SEM圖像上指定分析位置，開始EDS分析。

· VID

· 將采集的X射線譜圖和Visual PeakID（VID）合成的譜圖進行比較，定性結果可以通過視覺、數(shù)值判斷。

· Play Back

· Play Back (回放) 功能
用JEOL制造的EDS采集的元素面分布圖，不僅保存了每一幀中各個像素點的譜圖，還對每一幀中電子束形成的圖像進行了存儲。利用Play back功能，可以進行多角度的分析如觀測譜圖等隨時間的變化等。測試后數(shù)據(jù)能夠回放，可以觀察到樣品按時間順序發(fā)生的變化，這是至今為止無法實現(xiàn)的。此外，利用Play Back功能還可以截取任意指定的畫面。

· Smile Station? 2

· Smile Station?2功能通過在多個視野上自動進行分析，生成SEM和元素面分布圖的無縫蒙太奇圖像，也可以在取得的視野上進行連續(xù)的元素面分布和點分析等。（專利號4175597）

· Dry SD 檢測器

· Dry SD 檢測器（SDD檢測器）與傳統(tǒng)的EDS檢測器不同，不需要液氮制冷。使用快速簡單，同時實現(xiàn)了高分辨率和高計數(shù)率處理。