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日本JEOL 透射電子顯微鏡EM-ARM300F GRAND ARM GRAND ARM
- 品牌：日本電子
- 型號： EM-ARM300F
- 產(chǎn)地：亞洲 日本
- 供應(yīng)商報價：面議
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
更新時間：2025-06-14 12:51:26 -
銷售范圍售全國
入駐年限第7年
營業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類產(chǎn)品日本電子 JEOL 掃描電鏡(35件)
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產(chǎn)品特點
- 日本JEOL JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡，實現(xiàn)了世界Z高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器，Z高加速電壓可達(dá)300kV，是一款原子級分辨率電子顯微鏡。實現(xiàn)了世界Z高的STEM-HAADF像分辨率。
詳細(xì)介紹
JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡
JEM-ARM300F 實現(xiàn)了世界最高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器，最高加速電壓可達(dá)300kV，是一款原子級分辨率電子顯微鏡。實現(xiàn)了世界最高的STEM-HAADF像分辨率。
產(chǎn)品規(guī)格：
分辨率
300 kV，80 kV
物鏡種類※1
UHR極靴
HR極靴
STEM分辨率（300kV） 使用STEM校正器
0.058nm
0.063nm
TEM分辨率（300 kV）
線分辨率0.05nm
線分辨率0.06nm
使用TEM校正器
非線性信息分辨極限0.06nm
非線性信息分辨極限0.07nm
線性信息分辨極限0.09nm
線性信息分辨極限0.12nm
產(chǎn)品特點：
· 實現(xiàn)了世界最高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率
· JEM-ARM300F配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器，最高加速電壓可達(dá)300kV，是一款原子級分辨率電子顯微鏡。實現(xiàn)了世界最高的STEM-HAADF像分辨率。
· STEM-HAADF像的保證分辨率達(dá)到了前所未有的58pm
· 采用JEOL自主研發(fā)的球差校正器，掃描透射像（STEM像)的保證分辨率可達(dá)58pm（300kV,超高分辨率極靴、使用STEM球差校正器時）。
· ETA校正器 JEOL自主研發(fā)的12極球差校正器 ※選配件
· ETA校正器（Expanding trajectory aberration corrector）是JEOL研發(fā)的擴(kuò)展軌道型12極球差校正器。可以在用戶現(xiàn)場加裝STEM球差校正器及TEM球差校正器。
· 強(qiáng)大的冷場發(fā)射電子槍HyperCF300
· 標(biāo)配了全新設(shè)計的冷場發(fā)射電子槍,低能散、高亮度電子束能提供高分辨率觀察和分析。
· 兩種物鏡極靴
· 為了支持用戶廣泛的需求，研發(fā)了兩種各具特點的物鏡極靴。
· 豐富的選購件
· 能安裝超大立體角EDS（能譜儀）、EELS（電子能量損失譜儀）、背散射電子檢測器及四種STEM觀察檢測器。
· 大范圍的加速電壓設(shè)置
· 標(biāo)配300kV和80kV下的球差校正數(shù)據(jù),可選的加速電壓范圍從40KV?300kV，使用范圍極廣。
· 新開發(fā)的真空系統(tǒng)
· 新的排氣系統(tǒng)達(dá)到了極高的真空度，在原子尺度的圖像觀察和分析中，最大限度地減輕了對樣品的污染和損傷。
· 高穩(wěn)定的鏡筒和樣品臺
· 整體穩(wěn)定性高、直徑330mm的鏡筒增加了機(jī)械剛度， 在JEM-ARM200F高度穩(wěn)定的技術(shù)基礎(chǔ)之上，把電氣穩(wěn)定性和對環(huán)境的抗干擾能力提高到新高度。
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