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日本Rigaku 智能多功能X射線衍射儀 Smartlab SE
- 品牌:日本理學(xué)
- 型號(hào): RigakuXSmartlabSE
- 產(chǎn)地:亞洲 日本
- 供應(yīng)商報(bào)價(jià):面議
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深圳市科時(shí)達(dá)電子科技有限公司
更新時(shí)間:2025-04-29 06:40:25
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銷(xiāo)售范圍售全國(guó)
入駐年限第4年
營(yíng)業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類(lèi)產(chǎn)品X射線衍射儀(12件)
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產(chǎn)品特點(diǎn)
- 日本Rigaku 智能多功能X射線衍射儀 Smartlab SE,是 高自動(dòng)化、多功能衍射儀, 精于形,智于心,易用、智能的全功能X射線衍射儀。
詳細(xì)介紹
- 日本Rigaku 智能多功能X射線衍射儀 Smartlab SE
?引導(dǎo)用戶從測(cè)試到數(shù)據(jù)分析:
Smartlab Studio || 軟件包中的Guidance軟件可以根 據(jù)用戶希望完成的測(cè)試 ,給出儀器所需硬件配置 ,井 優(yōu)化測(cè)量參數(shù) 。對(duì)于常見(jiàn)的測(cè)試,軟件會(huì)給出ZY化 的儀器配置,井可以 自動(dòng)化的完成測(cè)試序列。由于 Smartlab中使用了獨(dú)有的組件識(shí)別技術(shù) ,因此當(dāng)測(cè)試 人員沒(méi)有正確配置光路或附件時(shí) ,Guidance 軟件可以 告知測(cè)試人員。軟件參數(shù)的優(yōu)化與硬件組件的智能確 認(rèn)是Smartlab系統(tǒng)可以勝任所有樣品測(cè)試的關(guān)鍵 。
可以滿足不同應(yīng)用需求:
多種光路及附件組合 ,能滿足多種用戶測(cè)試需求 。 簡(jiǎn)單 、快速的切換不 同的光路幾何,CBO (交叉先路) 技術(shù)與光路自動(dòng)調(diào)整和樣品位置矯 正的結(jié)合 ,可以使用戶在多種光路幾何間 ,快速便捷 的切換。
支持多種附件:
自動(dòng)進(jìn)樣器 、樣品旋轉(zhuǎn)臺(tái)、變溫附件或濕度控制附件 等多種附件可供用戶選擇。
可滿足快速和二維測(cè)量的先進(jìn)探測(cè)器:
Smartlab SE提供兩個(gè)先進(jìn)的檢測(cè)器 :D/teX Ultr a 250 高速一維探測(cè)器作為標(biāo)準(zhǔn)配置 ,HyPix-400 二維 半導(dǎo)體陣列檢 測(cè)器 作 為 升級(jí)配 置 供 用 戶選 擇 。 HyPix-400半導(dǎo)體陣列檢測(cè)器不僅可以在二維模式下 使用,同時(shí)還可以切換為零維或一維模式 ,這樣極大 的擴(kuò)展了該檢測(cè)器的應(yīng)用范圍。
從粉末測(cè)試到二維數(shù)據(jù)采集:
根據(jù)用戶的需要,整個(gè)儀器的配置可以滿足常規(guī)粉末樣品測(cè)試, 或者,復(fù)雜的微區(qū)或原位測(cè)試等要求 。
標(biāo)準(zhǔn)光路配置:
.Bragg-Brentano 聚焦光路
.粉末測(cè)試
·定量分析
.晶粒尺寸
·結(jié)晶度
切換至SAXS測(cè)量模式 理學(xué)ZL的交叉光路 ( CBO) 技術(shù):
使用CBO光路系統(tǒng)
聚焦光路件平行光路 〈通過(guò)CBO 轉(zhuǎn)換)
· SAXS 測(cè)試 薄膜測(cè)試 聚焦光路悼會(huì)聚光路法 (CBO-E)
.粉末透射測(cè)試
聚焦光路件發(fā)散光路 (通過(guò)CBO α轉(zhuǎn)換)
.高峰背比 (P/B) 的粉末測(cè)試
切換至微區(qū)測(cè)量模式HyPix-400檢測(cè)器
.搭載HyPix-400 的光路系統(tǒng)
.裝載有HyPix-400 二維探測(cè)器的光路
.微區(qū)測(cè)試
·原filln-situ測(cè)試
.取向測(cè)試
Smartlab SE 產(chǎn)品特征
先進(jìn)的高速探測(cè)器
高分辨率,超快速 一維 X 射線探測(cè)器D/teX Ultra250 (0/1D)
D/teX Ultra250 一維探測(cè)器支持Bragg-Brentano聚焦法測(cè)試 ,并且可 以在短時(shí)間內(nèi)獲得廣角度的粉末衍射峰形 。作為一款高性能的半導(dǎo) 體檢測(cè)器 ,其極高的能量分辨率可以有效的降低在測(cè)試過(guò)程中產(chǎn)生 的背景噪音。D/teX Ultra250 高速探測(cè)器作為一維探測(cè)器使用時(shí) ,可 以檢測(cè)到極弱的衍射信號(hào) ,同時(shí),該探測(cè)器還可以像閃爍計(jì)數(shù)器一 樣,作為零維探測(cè)器使用 。
半導(dǎo)體陣列多維探測(cè)器 HyPix-400 (OD /1D/20)
SmartLab SE搭載了先進(jìn)的HyPix-400半導(dǎo)體陣列20探測(cè)器 。如果說(shuō) D/teX Ultra 250可以勝任常規(guī)的零維和一維模式讀取的話 ,那么大讀 取面積的HyPix-40 0 二維探測(cè)器在收集二維衍射照片方面具有非常 大的優(yōu)勢(shì),HyPix -400 二維探測(cè)器可以在極短的時(shí)間內(nèi)完成晶體取 向評(píng)估及廣域倒易空 間成像等多種應(yīng)用。
交叉光路技術(shù) :CBO (理學(xué)ZL):
CBO 是理學(xué)ZL的光路切換單元 ,使用CBO僅需要對(duì)狹縫更換即可 完成兩種不 同的光路幾何之間的切換。SmartLab SE 可以根據(jù)用戶 需求提供三種不同的CBO單元的組合 :Bragg-Brentano 聚焦光束/平 行光束,B「agg-Brentano 聚焦光束/會(huì)聚光束,B「agg-Brentano 聚 焦光束/發(fā)散光束。
B舊gg”Brentan 聚焦法 :衷方法多用于常規(guī)粉末 XRD) lj試。
平行光束法 (CBO) :多層膜拋物面鏡使發(fā)散的光束變?yōu)槠叫泄?。 該光束多用于SAXS ,薄膜樣品或表面粗糙樣品的測(cè)試等。
會(huì)聚光束法 (CBO-E) :發(fā)散的光束通過(guò)具有橢圓形鏡面的多層膜 透鏡會(huì)聚于被測(cè)表面 ,該光路可以在透射模式下提供高角度分辨率 的數(shù)據(jù)。
發(fā)散光束法 (CBO α):光束被平面 多層膜鏡單色后,只有 Kα,相 比Bragg-Brentano 可以增加數(shù)據(jù)的峰背比。
測(cè)量及數(shù)據(jù)分析軟件包 Smartlab Studio 11
Sma「tlab Studio II 是一個(gè)功能強(qiáng)大、操作界面友好的軟件包 ,其中整合了所有的光路調(diào)整,數(shù)據(jù)測(cè)試和分析的 功能。用戶可以通過(guò)不同組件的切換選悻所需的功能 ,例如“測(cè)試” 、“粉末數(shù)據(jù)分析” 、“極圖” 、℃DF分析”或“殘 余應(yīng)力”等功能。所有這些功能都集中于 同一個(gè)界面友好且容易操作 的軟件操作平臺(tái)。
智能光路感知功能:
由于光學(xué)組件可以被儀器自 動(dòng)識(shí)別 ,使用理學(xué)的Guidance 軟件可以通過(guò)演示動(dòng)畫(huà)指導(dǎo)用戶更換光路或附件 。
除此之外,對(duì)于常見(jiàn)的應(yīng)用 ,軟件包中預(yù)設(shè)有推薦的光路 設(shè)置 、樣品校正和測(cè)量序列 ,可以嗎助初學(xué)者盡快熟悉井 完成所需的測(cè)試。
流程圖式的測(cè)試引導(dǎo)欄
Sma『tlab Studio 川 采用了簡(jiǎn)潔的流程圖式的引導(dǎo)欄,從測(cè) 試到數(shù)據(jù)分析的整個(gè)過(guò)程中 ,通過(guò)提示關(guān)鍵步驟 ,更加直 觀的幫助測(cè)試人員者理解每步操作。
mn
綜合信息管理系統(tǒng)
Smartlab Studio II 采用了先進(jìn)的 SOL數(shù)據(jù)管理模式,于本 地?cái)?shù)據(jù)庫(kù)中高效的管理測(cè)試材料信息 、測(cè)試數(shù)據(jù)及數(shù)據(jù)分 析結(jié)果 。SOL數(shù)據(jù)庫(kù)具有出色的數(shù)據(jù)檢索和備份功能 ,可以輕松處理海量測(cè)試信 息.
Smartlab SE 可根據(jù)應(yīng)用需求調(diào)整配置
反射/透射 模式下的粉末衍射測(cè)量
反射模式光路配置
Bragg-Brentano 聚焦法
.平行光束法
·發(fā)散光束法
用戶可以根據(jù)測(cè)量需要在反射模式和透射模式 間切換。使 用會(huì)聚光束進(jìn)行透射法測(cè)試 ,可以獲得更高的強(qiáng)度和更好 的分辨率。0.1 質(zhì)量分?jǐn)?shù)% 石棉 (溫石棉) 分散于碳酸鈣中 一束發(fā)散的X射線經(jīng)過(guò)平面鏡單色后進(jìn)行衍射實(shí) 驗(yàn) ,相比于傳統(tǒng)的 Bragg-Brentano聚焦光路模 式,可以獲得更高的信背 比。從衍射實(shí)驗(yàn)結(jié)果中可以看出?自量的石棉衍射信號(hào)都可 以被檢測(cè)到 。
透射模式光路配置
·聚焦光束法
·平行光束法
(上圖展示的是垂直模式下的透射測(cè)試光路)
分別用反射法和透射法測(cè)試藥 片的X射線衍射峰 藥物片劑一般由含有甜昧的輔料及可食用色素構(gòu) 成,可以有效的降低藥片在吞咽時(shí)的苦澀感。藥片 表面的成分可以通過(guò)反射法進(jìn)行測(cè)試 ,而藥片內(nèi)部的信息可以通過(guò)透射法獲得。
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