HORIBA 納米顆粒分析儀 SZ-100 V2

產(chǎn)品介紹：

SZ-100 V2 納米顆粒分析儀是準(zhǔn)確測量小顆粒物理性質(zhì)的分析工具，如顆粒粒徑、zeta電位的檢測，分子量（Mw）以及第二維利系數(shù)（A2）的測定；還可以用于檢測蛋白質(zhì)、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數(shù)。

SZ-100 V2納米顆粒分析儀典型應(yīng)用包括：納米顆粒，膠體，乳液以及亞微米懸浮液。

產(chǎn)品特點

·  同臺儀器可測三種參數(shù)——粒度、zeta電位、分子量及第二維利系數(shù)

·  寬檢測范圍，寬濃度范圍——樣品濃度可達40%

·  自動滴定儀——可用于zeta電位測量過程中pH值的自動滴定

·  軟件操作簡單功能強大，一鍵測量

·  雙光路雙角度粒徑測量（90° 和173°）

·  采用微量樣品池

技術(shù)參數(shù)

粒徑測量原理：動態(tài)光散射法（光子相關(guān)光譜法）

粒徑測定范圍：0.3nm ～10μm

粒徑測量精度：±2%（NIST 可溯源標(biāo)準(zhǔn)粒子100nm）

Zeta 電位測量原理：激光多普勒電泳法

Zeta 電位測量范圍：-500 mV ～ +500 mV

分子量測量原理：Debye plot

分子量測量范圍：1000 ～ 2×107 Da

測量角度：90° 和173°（可自動或手動選擇）

樣品量：12μL ～ 1000μL