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SX-HS系列CCD探測(cè)器

北京優(yōu)納珂科技有限公司更新時(shí)間：2024-01-24 16:27:45

銷售范圍售全國(guó)

入駐年限第10年

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產(chǎn)品特點(diǎn)

1ms的超短時(shí)間盲區(qū)
特有的Rayonix幀傳遞技術(shù)
ZY的量子效率性能
JZ的質(zhì)量控制
傳感器工作溫度：-70℃；
探測(cè)面像素：1920×1920，3.7萬(wàn) 像素
極低的噪音控制，低噪音模式：4 e-?/像素

產(chǎn)品介紹：
SX–HS系列：高速、單模塊X射線檢測(cè)器，利用獨(dú)特的幀傳遞技術(shù)進(jìn)行高速數(shù)據(jù)采集，并且不會(huì)降低分辨率和數(shù)據(jù)質(zhì)量。

應(yīng)用幀傳遞技術(shù)，任何數(shù)量的高速單模塊配置都是可能的。目前Rayonix提供了SX30-HS和SX85-HS，都是基于這一技術(shù)。光纖的錐度比和尺寸，以及熒光體的特殊組合，使之更容易實(shí)現(xiàn)。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

l 1ms的超短時(shí)間盲區(qū)

l 特有的Rayonix幀傳遞技術(shù)

l 卓越的量子效率性能

l JZ的質(zhì)量控制

l 16 個(gè)讀出通道

l 傳感器工作溫度：-70℃；

l 探測(cè)面像素：1920×1920，3.7萬(wàn) 像素

l 極低的噪音控制，低噪音模式：4 e- /像素

技術(shù)參數(shù)：
SX-HS系列探測(cè)器技術(shù)規(guī)格

	SX30-HS	SX85-HS
探測(cè)面有效面積	30 mm × 30 mm	85 mm × 85 mm
像素尺寸（標(biāo)準(zhǔn)2×2形式）	32 μm	89 μm
點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)，半高寬	100 μm （標(biāo)準(zhǔn)熒光體）； ~25μm（高分辨，定制熒光體）	100 μm （標(biāo)準(zhǔn)熒光體）； ~65μm（高分辨，定制熒光體）
暗電流	0.003 e- /像素/秒或 0.00004 光子/像素/秒 (12keV)	0.003 e- /像素/秒或 0.0003 光子/像素/秒 (12keV)