布魯克第十代臺階儀DektakXT

布魯克DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓儀）是一項(xiàng)創(chuàng)新性的設(shè)計(jì)，可以提供無與倫比的重現(xiàn)性，重現(xiàn)性低于4A。臺階儀這項(xiàng)性能的提高達(dá)到了過去四十年 Dektak 技術(shù)創(chuàng)新的頂峰，更加鞏固了其行業(yè)領(lǐng)先地位。通過整合其行業(yè)領(lǐng)先產(chǎn)品，DektakXT實(shí)現(xiàn)了最高性能。

操作簡易，從研發(fā)到質(zhì)量控制都有更好的過程控制。整合了技術(shù)突破到第十代 Dektak 臺階儀能夠在微電子，半導(dǎo)體，太陽能、超高亮度發(fā)光二極管（LED）、醫(yī)學(xué)、材料科學(xué)等行業(yè)實(shí)現(xiàn)納米級表面形貌測量。

單拱門結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)使 DektakXT 更堅(jiān)固，從而將環(huán)境噪音的影響降至ZD。DektakXT 升級的"智能電子設(shè)備"可降低溫度變化的影響，并采用現(xiàn)代處理器，最大限度地減少噪聲水平，使其成為能夠測量 <10nm 臺階高度的更強(qiáng)大的系統(tǒng)。

布魯克的 Vision64 軟件通過提供直觀、簡化的用戶可視化界面，加入到 DektakXT 的創(chuàng)新設(shè)計(jì)。智能架構(gòu)和可自定義自動(dòng)化功能相結(jié)合，可實(shí)現(xiàn)快速、全面的數(shù)據(jù)收集和分析。無論您是使用分析腳本對單個(gè)掃描結(jié)果進(jìn)行分析，還是應(yīng)用自定義篩選器設(shè)置和計(jì)算，DektakXT 的數(shù)據(jù)分析器都能顯示當(dāng)前分析結(jié)果，同時(shí)顯示其他可能的分析工具。

DektakXT 的自對齊探針組件允許用戶快速輕松地更換不同探針，同時(shí)消除換針中的任何潛在風(fēng)險(xiǎn)。布魯克提供廣泛的探針尺寸和形狀，幾乎滿足任何應(yīng)用需求。