布魯克原子力顯微鏡NanoWizard 4 XP

·高分辨定量成像性能

·150Hz快速掃描助力動態(tài)變化過程研究

·與最精密先進光學顯微鏡的結合

·新一代基于工作流程的軟件革新

·靈活易用的模塊化設計與大量模塊的拓展性

高分辨率、穩(wěn)定性與準確度

S次將高分辨率、快速掃描與100μm大范圍掃描集成于一套系統(tǒng)之中。全新的 Vortis? 2控制器帶來了數(shù)據(jù)準確度可以輕松進行海量大數(shù)據(jù)處理,與超分辨率顯微鏡平臺集成。

快速掃描模式，捕捉樣品動態(tài)

·Nanowizard 4 XP可以實現(xiàn)150Hz的線掃描速度。Vortis?控制器使具有100μm掃描器的系統(tǒng)仍然具有帶寬、準確的力控制以及高速的反饋響應，并與先進快速光學同步測量無縫整合。

·允許在最大16.5μm的高度變化范圍內快速響應。

·讓在幾秒內獲取活細胞或者單分子的高質量數(shù)據(jù)以展示活細胞的天然動態(tài)過程成為可能，給實時動態(tài)實驗帶來速度及準確性。

全面革新的V7控制軟件

全新基于工作流的軟件設計加速了科學產出,基于工作流程和任務導向的工作界面會組織實驗每個步驟所需的信息,并通過提供智能幫助以及校準與設置信息的反饋,來引導用戶設定所需實驗。

直觀便捷的數(shù)據(jù)獲取方式可以幫助即使有很少AFM使用經驗的用戶都可以自信地獲取高質量的數(shù)據(jù)。

力譜測量

QI?高級模式基于真實力曲線,為從單分子到活細胞的應用提供驚人的速度和分辨率。定量數(shù)據(jù)允許精確、快速分析力學或生化相互作用,先進的批量大數(shù)據(jù)處理功能包含多種模量擬合模型,可通過接觸點成像( Contact Point Imaging,CPI?）顯示零接觸力表面形貌。