Agilent安捷倫 /HP4278A LCR測(cè)試儀

東莞市歐諾誼電子儀器有限公司

聯(lián)系人：肖經(jīng)理  13560813766

地址：東莞市塘廈鎮(zhèn)宏業(yè)北路148號(hào)升聯(lián)大廈508室

度:0.07%,0.0005(1kHz,21ms) ★0.05%,0.0002(1MHz,21ms)

Agilent 4278A 1kHz/1MHz電容測(cè)試儀是一臺(tái)高速高可靠的精密測(cè)試儀器，用于生產(chǎn)線和質(zhì)量控制中作電容器的進(jìn)出廠檢。Agilent 4278A 能改善小電容量和中等電容器的測(cè)試效率（可測(cè)量以200μF，這個(gè)電容量能容納多數(shù)陶瓷和薄膜電容器的數(shù)據(jù)值）。

技術(shù)指標(biāo)：

測(cè)量參數(shù)

C-D，Q，ESR，G

測(cè)試信號(hào)

頻率：

1kHz和1MHz±0.02%

信號(hào)電平：

0.1~1Vrms,±10%(C≤20μf),以0.1Vrms步進(jìn)

測(cè)量時(shí)間：

6.5ms/10ms/21ms(典型值）

測(cè)量范圍

測(cè)量參數(shù)

1kHz

1MHz正常模式

1MHz高精度

C

0.01pF~200.000μF

0.00001pF~1280.00pF

0.00004pF~2663.00pF

D

0.00001~9.99999

0.00001pF~9.99999

0.00001pF~0.99999

電纜長度補(bǔ)償

0,1或2m

比較器：

對(duì)電容的10倉室分類，對(duì)D、Q、ESR和G的合格/不合格測(cè)試

存儲(chǔ)卡插槽

外部存儲(chǔ)器的存儲(chǔ)卡插槽用于對(duì)控制設(shè)置和比較極限進(jìn)行分類和調(diào)用（存儲(chǔ)卡可任選，參見下面的選件004）。

備注：以上儀器我們公司大量回收，有意出售者，請(qǐng)聯(lián)系