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    日本JIMA RT CT-01B CT分辨率測試卡

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    由日本檢測儀器制造商協(xié)會 (JIMA) 精心打造,為 CT 和 X 射線系統(tǒng)提供最先進的校準。它們可提高各種分辨率下的成像精度,對于高質(zhì)量的掃描和檢查至關(guān)重要

    詳細介紹




    由日本檢測儀器制造商協(xié)會 (JIMA) 精心打造,為 CT 和 X 射線系統(tǒng)提供zui xian 進的校準。它們可提高各種分辨率下的成像精度,對于高質(zhì)量的掃描和檢查至關(guān)重要。


    日本JIMA RT CT-01B CT分辨率測試卡采用zui xian 進的半導(dǎo)體工藝技術(shù),采用金 (Au) 吸收材料開發(fā)了一種新的 CT 分辨率圖,適用于從 3 微米到 7 微米的 5 種不同尺寸的線和空間。這是檢查 Microfocus X 射線 CT 掃描系統(tǒng)
    性能的非常有用且不可或缺的工具,也可用于校準、設(shè)置、維護、日常對準等。

    日本JIMA RT CT-01B CT分辨率測試卡

    日本JIMA RT CT-01B CT分辨率測試卡
     

    JIMA RT CT-01B CT分辨率測試卡實物拍攝圖:

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